[发明专利]分析装置、分析程序以及分析系统

权利要求书

1.一种分析装置，包括：

二维坐标检测单元，被配置为对于通过在多个焦深捕获包括分析目标物的分析样本而获得的捕获图像组检测作为在每个捕获图像中的所述分析目标物的平面坐标候选的二维坐标候选；以及

三维坐标确定单元，被配置为基于所述捕获图像之间的所述平面坐标候选的位置关系来确定作为所述分析目标物的三维坐标的候选的三维坐标候选，

所述二维坐标检测单元被配置为从所述捕获图像中提取第一特征量，基于所述第一特征量检测初始二维坐标候选，在所述初始二维坐标候选周围设置比较范围，从包括在所述比较范围中的捕获图像中提取第二特征量，并且当在所述比较范围中移动模板时，在与所述模板重叠的范围中，将所述模板的特征量与所述捕获图像的所述第二特征量进行比较，从而检测所述二维坐标候选。

2.根据权利要求1所述的分析装置，进一步包括

估算单元，被配置为通过估算函数估算分析目标物图像与位于所述三维坐标候选的物像之间的相似性。

3.根据权利要求1所述的分析装置，其中

所述三维坐标确定单元被配置为基于在焦深方向上所述二维坐标候选的连续数目来确定所述三维坐标候选。

4.根据权利要求1所述的分析装置，其中

所述第一特征量是第一像素数的像素之间的亮度差，以及

所述第二特征量是比所述第一像素数更大的第二像素数的像素之间的亮度差。

5.根据权利要求4所述的分析装置，进一步包括

估算单元，被配置为当所述第二特征量最接近匹配所述模板时，通过使用估算函数估算分析目标物图像和位于所述三维坐标候选的物像之间的相似性，所述估算函数使用包括在所述比较范围中的捕获图像的所述第二特征量和所述模板的特征量之间的差。

6.根据权利要求5所述的分析装置，其中

所述二维坐标检测单元被配置为当所述第二特征量最接近匹配所述模板时，计算包括在所述比较范围中的捕获图像的中心部分和外围部分之间的亮度差，并通过使用所述亮度差验证所述二维坐标候选。

7.根据权利要求6所述的分析装置，其中

所述估算单元被配置为通过估算函数估算所述分析目标物图像和位于三维坐标候选的物像之间的相似性，其中，所述估算函数使用所述第二特征量和所述模板之间的差和所述亮度差。

8.一种非暂时性计算机可读存储介质，存储有分析程序，所述分析程序使信息处理装置用作：

二维坐标检测单元，被配置为对于通过在多个焦深捕获包括分析目标物的分析样本而获得的捕获图像组，检测作为在每个捕获的图像中的所述分析目标物的平面坐标候选的二维坐标候选；以及

三维坐标确定单元，被配置为基于所述捕获图像之间的所述平面坐标候选的位置关系来确定作为所述分析目标物的三维坐标的候选的三维坐标候选，

所述二维坐标检测单元被配置为从所述捕获图像中提取第一特征量，基于所述第一特征量检测初始二维坐标候选，在所述初始二维坐标候选周围设置比较范围，从包括在所述比较范围中的捕获图像中提取第二特征量，并且当在所述比较范围中移动模板时，在与所述模板重叠的范围中，将所述模板的特征量与所述捕获图像的所述第二特征量进行比较，从而检测所述二维坐标候选。

9.一种分析系统，包括：

显微镜成像装置；

分析装置，包括

二维坐标检测单元，被配置为对于通过所述显微镜成像装置在多个焦深捕获包括分析目标物的分析样本而获得的捕获图像组检测作为在每个捕获图像中的所述分析目标物的平面坐标候选的二维坐标候选，以及

三维坐标确定单元，被配置为基于所述捕获图像之间的平面坐标候选的位置关系来确定作为所述分析目标物的三维坐标的候选的三维坐标候选，

其中，所述二维坐标检测单元被配置为从所述捕获图像中提取第一特征量，基于所述第一特征量检测初始二维坐标候选，在所述初始二维坐标候选周围设置比较范围，从包括在所述比较范围中的捕获图像中提取第二特征量，并且当在所述比较范围中移动模板时，在与所述模板重叠的范围中，将所述模板的特征量与所述捕获图像的所述第二特征量进行比较，从而检测所述二维坐标候选；

以及

控制装置，被配置为通过使用所述三维坐标候选来控制所述显微镜成像装置。