[发明专利]面板亮点检测方法及系统

说明书

一种面板亮点检测方法及系统，适用于检测一面板之亮点缺陷，该方法包含以下步骤：取像模块撷取一代表亮点缺陷及异物所在之位置的透射影像；取像模块撷取一反射影像，该反射影像中亮度较高处是光线在被该面板表面之异物所反射的情况下通过一偏振镜而撷取形成，反射光在面板表面没有异物的情况下是沿一第一方向偏振的线偏振光，该偏振镜具有一光轴且该光轴垂直该第一方向而能阻挡该线偏振光；处理模块执行影像相减，将透射影像的各画素值减去反射影像的各画素值而形成一结果影像，该结果影像中亮度较高处代表亮点缺陷所在之位置。

技术领域

本发明涉及一种检测方法，特别是涉及一种面板亮点检测方法及系统。

背景技术

现有一种面板亮点检测技术，为利用透射光搭配影像辨识方式进行检测；也就是从一面板的一侧打光，在另一侧撷取影像。如果该面板存在会导致亮点的内部缺陷，该内部缺陷处无法阻挡光线通过，而其他正常部分阻挡了光线，则撷取的影像中对应缺陷处的亮度便会较四周为高，借此检测出面板亮点。

然而该现有技术在面板表面存在例如微粒或尘埃等异物的情况下，若有光线穿透面板，所述异物有可能反射光线而导致撷取的图像映射该异物处亮度也比周围高，因而造成误判。在此情况下，检测人员无法分辨影像中哪些明亮处是亮点所导致，而哪些明亮处是因表面存在异物而导致。

发明内容

本发明的目的在于提供一种可分辨影像中因表面存在异物而导致的明亮处的面板亮点检测方法。

本发明的另一目的在于提供一种可分辨影像中因表面存在异物而导致的明亮处的面板亮点检测系统。

本发明面板亮点检测方法，由一面板亮点检测系统执行，适用于检测一面板，该系统包含一取像模块、一处理模块、一光源模块，及一具有一光轴的偏振镜，该方法包含以下步骤：

该取像模块撷取一透射影像，该透射影像是该光源模块发出的光线在穿透该面板后被该取像模块所撷取而形成。

该取像模块撷取一反射影像，该反射影像是该光源模块发出的光线在被反射形成一反射光、该反射光通过该偏振镜的情况下，被该取像模块所撷取而形成，该反射光在面板表面没有异物的情况下是沿一第一方向偏振的线偏振光，该偏振镜的该光轴垂直该第一方向，该反射光在面板表面有异物且经该异物反射的情况下是一非偏振光，该非偏振光会部分通过该偏振镜。

该处理模块执行影像相减，将该透射影像的各画素值减去该反射影像的各画素值而形成一结果影像。

较佳地，该方法还包括在撷取反射影像前执行的以下步骤：架设该光源模块、该偏振镜及该取像模块，使得该光源模块发出的光线是以布鲁斯特角入射该面板，并以相同的角度反射，还使该偏振镜及该取像模块依序位于反射光的路径上，并使该偏振镜的该光轴垂直该第一方向，该取像模块朝向光线反射处取像，而撷取通过该偏振镜的反射光。

较佳地，该取像模块是以线扫描的方式取像。

较佳地，该方法还包括该处理模块针对该结果影像，利用图像处理的方法判断该结果影像中亮度较四周为高或亮度值超过一阈值之画素的位置。

本发明面板亮点检测系统，适用于检测一面板，该系统包含：

位于该面板两相反侧的一透射光源及一第一取像单元，该透射光源发出的光线在穿透该面板后会被该第一取像单元所撷取而形成一透射影像。