[发明专利]电子设备性能测试方法及装置

权利要求书

1.一种电子设备性能测试方法，其特征在于，包括：

接收测试指令；

响应所述测试指令，对所述电子设备进行性能测试，获得当前性能结果；

确定所述电子设备对应的基准性能信息；

根据所述当前性能结果和所述基准性能信息，判断所述当前性能结果相对于所述基准性能信息是否发生波动且所述波动的程度达到预设要求；

如果是，输出所述当前性能结果和用于表明所述当前性能结果发生波动的提示信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过弹出窗口或对话框的形式，输出用于表明所述当前性能结果发生波动的提示信息。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，还包括：

当判断出所述当前性能结果相对于所述基准性能信息未发生波动或发生波动但所述波动的程度未达到预设要求，输出所述当前性能结果。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述电子设备对应的基准性能信息，包括：

确定所述电子设备的机型对应的基准性能信息；

将所述机型对应的基准性能信息确定为所述电子设备对应的基准性能信息。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，还包括：

保存所述当前性能结果。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述确定所述电子设备对应的基准性能信息，包括：

获取前一次测试所保存的所述电子设备的性能结果；

将所获取的前一次测试所保存的性能结果确定为所述电子设备对应的基准性能信息；

或者，

获取之前所保存的所述电子设备的至少一个性能结果；

将所获取的之前所保存的至少一个性能结果和所述当前性能结果求平均，并将平均值确定为所述电子设备对应的基准性能信息；

或者，

获取之前所保存的所述电子设备的至少一个性能结果；

将所获取的之前所保存的至少一个性能结果求平均，并将平均值确定为所述电子设备对应的基准性能信息。

7.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，还包括：

在所述性能测试过程中，检测所述电子设备的至少一种当前状态参数；

确定所述电子设备对应的基准状态参数；

在判断出所述当前性能结果相对于所述基准性能信息发生波动且所述波动的程度达到预设要求后，输出所述当前性能结果和用于表明所述当前性能结果发生波动的提示信息之前，所述方法还包括：

依据所述至少一种当前状态参数和所述基准状态参数，确定影响所述性能测试的性能结果的状态信息；

相应的，输出所述当前性能结果和用于表明所述当前性能结果发生波动的提示信息，包括：

输出所述当前性能结果和用于表明所述影响所述性能测试的性能结果的状态信息导致所述当前性能结果发生波动的提示信息。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，还包括：

当判断出所述当前性能结果相对于所述基准性能信息未发生波动或发生波动但所述波动的程度未达到预设要求时，输出所述当前性能结果。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述确定所述电子设备对应的基准性能信息，包括：

确定所述电子设备的机型对应的基准性能信息；

将所述机型对应的基准性能信息确定为所述电子设备对应的基准性能信息；

相应的，所述确定所述电子设备对应的基准状态参数，包括：

确定所述电子设备的机型对应的基准状态参数；

将所述机型对应的基准状态参数确定为所述电子设备对应的基准状态参数。

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，还包括：

保存所述当前性能结果和所述至少一种当前状态参数。