[发明专利]放射线图像检测设备及其操作方法、以及放射线成像系统有效
| 申请号: | 201410125798.2 | 申请日: | 2014-03-31 |
| 公开(公告)号: | CN104068882B | 公开(公告)日: | 2018-04-17 |
| 发明(设计)人: | 渡边敬太;野间健太郎;小田泰史 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
| 主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 李宝泉,周亚荣 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 放射线 图像 检测 设备 及其 操作方法 以及 成像 系统 | ||
1.一种放射线图像检测设备,包括:
面板单元,所述面板单元具有用于通过接收从放射线源发射的放射线来对被摄体的放射图像成像的图像捕捉场;
以具有多个像素行和像素列的二维阵列排列在所述面板单元中的多个像素,所述像素中的每一个产生和累积电荷;
在像素行的基础上提供在所述面板单元中的多个扫描线,所述扫描线用于使具有要从其读出所述电荷的所述像素的所述像素行处于接通状态;
在像素列的基础上提供在所述面板单元中的信号线,所述信号线用于在像素列的基础上从所述像素读出所述电荷;
控制器,所述控制器用于控制所述面板单元来执行预发射读出操作、累积操作和图像读出操作的三种类型的操作,其中,
在所述预发射读出操作中,将多个相邻的所述像素行设置为合并像素行,以及在合并像素行的基础上从第一合并像素行到最后一个合并像素行依序地执行所述电荷的合并读出,并且在达到所述最后一个合并像素行时从所述第一合并像素行重复所述电荷的合并读出,以便获得参考线图像,所述参考线图像中的每一个具有作为同一像素列中的多个所述像素的所述电荷的总和的像素值,
在所述放射线源开始发射所述放射线同时在合并像素行的基础上重复所述电荷的所述合并读出的情况下,执行所述累积操作代替所述预发射读出操作,用于根据所述放射线来将所述电荷累积在所述像素中,以及
在完成从所述放射线源发射所述放射线后,开始所述图像读出操作,用于在像素行的基础上从所述像素读出所述电荷,并且将所述电荷变换成用于形成所述放射图像的像素值;
参考线图像记录控制器,所述参考线图像记录控制器用于每当执行所述合并读出时通过将所述参考线图像依序地记录到存储器来获得多个所述合并像素行的所述参考线图像;
发射开始判定单元,所述发射开始判定单元用于判定从所述放射线源发射所述放射线的开始;
校正图像生成器,所述校正图像生成器用于通过放大在像素列方向中所述多个合并像素行的所述参考线图像的图像大小并且校正所述像素值,来产生用于校正由于在发射所述放射线的开始与发射开始的判定之间的时间延迟而在所述放射图像的像素行方向中发生的带状线缺陷的校正图像;以及
线缺陷校正器,所述线缺陷校正器用于通过将所述校正图像与所述放射图像相加来校正所述线缺陷。
2.根据权利要求1所述的放射线图像检测设备,其中,所述校正图像生成器基于所述多个合并像素行的所述参考线图像中紧接在停止所述预发射读出操作前获得的紧接在前参考线图像来校正所述参考线图像的所述像素值。
3.根据权利要求2所述的放射线图像检测设备,其中,所述校正图像生成器包括:
校正系数计算器,所述校正系数计算器用于计算用于将所述参考线图像的所述像素值变换成与所述放射图像的像素值相对应的值的校正系数;以及
像素值校正器,所述像素值校正器用于将所述参考线图像的所述像素值乘以由所述校正系数计算器计算的所述校正系数。
4.根据权利要求3所述的放射线图像检测设备,其中,
所述校正系数计算器将比值ΔD/SQ计算为所述校正系数,其中,
SQ表示所述紧接在前参考线图像的像素值;以及
ΔD表示作为由所述线缺陷引起的相邻两个所述像素行之间的所述放射图像的像素值D中的差值的最大值的差量。
5.根据权利要求3所述的放射线图像检测设备,其中,
所述校正系数计算器将比值ΔDR/SQR计算为所述校正系数,其中,
SQR表示所述紧接在前参考线图像的像素值SQ的典型值;以及
ΔDR表示作为由所述线缺陷引起的相邻两个所述像素行之间的所述放射图像的像素值D中的差值的最大值的差量ΔD的典型值。
6.根据权利要求5所述的放射线图像检测设备,其中,
所述典型值SQR是所述像素值SQ的平均值SQave;以及
所述典型值ΔDR是所述差量ΔD的平均值ΔDave。
7.根据权利要求6所述的放射线图像检测设备,其中,所述校正系数计算器通过从用于计算所述平均值SQave和所述平均值ΔDave的所述像素值SQ和所述像素值D排除缺陷像素的像素值,来计算所述平均值SQave和所述平均值ΔDave。
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