[发明专利]一种适用于芯片测试的电路

说明书

本发明提出一种适用于芯片测试的电路，该电路主要包括依次连接的测试焊盘、1位电平转换电路以及串转并电路，该串转并电路能够实现1位串行信号转n位并行信号；还设置有一控制电路对串转并电路进行控制，使得经1位电平转换电路输出的1位电平信号通过串转并电路转换为m位并行信号输出，这里m≤n。本发明采用测试焊盘取代传统的熔丝电路，可以通过外接探针扎到测试焊盘输入不同的信号，只使用1个测试焊盘，便实现了现有技术中n位熔丝电路的功能。

技术领域

本发明涉及一种适用于芯片测试的功能切换电路。

背景技术

在芯片的设计及其制造中，经常会用到熔丝电路。熔丝的主要作用是：在芯片生产完成后，根据测试结果或者功能的设定需要对熔丝进行切换，它的切换主要是通过激光对芯片中预设的熔丝进行烧断，实现电路硬性连接的改变，从而改变电路的工作状态或功能。

因为工作电源的不同等原因，熔丝电路的输出信号并不能直接给电路使用。熔丝电路的信号需要经过电平转换电路处理之后才输出给其他电路使用。通常，每一位熔丝电路接一位电平转换电路。如图1所示，为现有技术中的熔丝电路结构，图中n位熔丝电路接n位电平转换电路配合使用。

n位熔丝电路本身需要占用较大的面积，而且在被激光烧断后不能恢复，难以在芯片测试或功能设定操作中重复使用，因此综合成本较高。

发明内容

为了解决传统方案综合成本较高的问题，本发明提出一种新的适用于芯片测试的功能切换电路。

本发明的基本解决方案如下：

一种适用于芯片测试的电路，主要包括依次连接的测试焊盘、1位电平转换电路以及串转并电路，该串转并电路能够实现1位串行信号转n位并行信号；还设置有一控制电路对串转并电路进行控制，使得经1位电平转换电路输出的1位电平信号通过串转并电路转换为m位并行信号输出，这里m≤n。

基于上述基本方案，本发明还做如下具体优化：

上述控制电路包括逻辑电路、时钟电路和计数电路，逻辑电路用于向串转并电路、时钟电路和计数电路发出控制信号，并根据计数电路返回的计数值控制时钟电路向串转并电路发出时钟信号。

上述串转并电路包括n位数据线以及相应的n个子单元，n个子单元的一端作为并行信号输出端，另一端共接作为串行信号输入端；每个子单元包括一对反相器以及分别接使能信号和时钟信号的两个MOS管。

本发明的优点：

本发明采用测试焊盘取代传统的熔丝电路，可以通过外接探针扎到测试焊盘输入不同的信号，只使用1个测试焊盘，便实现了现有技术中n位熔丝电路的功能。

1.虽然增加了控制电路、串→并转换电路，但是相对于n位熔丝电路，增加的电路面积很小，且功耗也很小。

2.由n位熔丝电路换为1个测试焊盘，不需要改变电路的硬链接，增加了电路的灵活性。

3.工艺上测试焊盘的实现更简单。

附图说明

图1为传统方案的示意图。

图2为本发明实施例一的示意图。

图3为本发明实施例二的示意图。

图4为本发明中控制电路的结构示意图。

图5为本发明中串转并电路的结构示意图。

具体实施方式

实施例一