[发明专利]粒子测定装置有效
| 申请号: | 201410121220.X | 申请日: | 2014-03-28 |
| 公开(公告)号: | CN104075979B | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
| 发明(设计)人: | 山田和宏;山本毅 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
| 主分类号: | G01N15/14 | 分类号: | G01N15/14 |
| 代理公司: | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人: | 杨永波;刘良勇 |
| 地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 粒子 测定 装置 | ||
1.一种粒子测定装置,包括:
流动室,用于供试样流动;
第一光源,用于射出具有第一波长的光;
第二光源,用于射出具有不同于所述第一波长的第二波长的光;
照射光学系统,用于向所述流动室照射所述第一光源和所述第二光源射出的光;
第一受光部件,用于接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第一光源的光所获得的散射光;以及
第二受光部件,用于接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第二光源的光所获得的散射光;其中,
所述照射光学系统具有让所述第一光源射出的光透过、并反射所述第二光源射出的光的分色镜;
所安装的所述第二光源和所述分色镜能够向相互不同的转动方向转动;
如果所述第二光源转动,则来自所述第二光源的光的照射位置在第一方向上移动;如果所述分色镜转动,则来自所述第二光源的光的照射位置在不同于第一方向的第二方向上移动。
2.根据权利要求1所述的粒子测定装置,其特征在于:
还包括受光光学系统,用于将向测定粒子照射具有所述第一波长的光所产生的散射光引向所述第一受光部件,将向测定粒子照射具有所述第二波长的光所产生的散射光引向所述第二受光部件。
3.根据权利要求1所述的粒子测定装置,其特征在于:
所述照射光学系统将所述第一光源射出的具有所述第一波长的光照射到所述流动室内的第一照射位置,将所述第二光源射出的具有所述第二波长的光照射到所述流动室内与所述第一照射位置不同的第二照射位置。
4.根据权利要求3所述的粒子测定装置,其特征在于:
所述第一照射位置和所述第二照射位置在所述流动室的试样的流动方向上错开。
5.根据权利要求4所述的粒子测定装置,其特征在于:
所述粒子测定装置还具有分别获取基于所述第一受光部件接受的散射光的第一散射光数据和基于所述第二受光部件接受的散射光的第二散射光数据的分析部件;
所述分析部件将从同一测定粒子获得的所述第一散射光数据和所述第二散射光数据互相对应,根据所述第一散射光数据和所述第二散射光数据进行分析。
6.根据权利要求2所述的粒子测定装置,其特征在于:
所述照射光学系统将所述第一光源射出的具有所述第一波长的光以及所述第二光源射出的具有所述第二波长的光照射到所述流动室内的同一位置,
所述受光光学系统具有使基于具有所述第一波长的光的散射光的光路与基于具有所述第二波长的光的散射光的光路相互分离的分光部件。
7.根据权利要求1所述的粒子测定装置,其特征在于:
所述粒子测定装置分别包括具有所述第一受光部件的第一光检测器和具有所述第二受光部件的第二光检测器。
8.根据权利要求1所述的粒子测定装置,其特征在于:
所述第一受光部件和所述第二受光部件在与其受光面平行的方向相邻配置。
9.根据权利要求8所述的粒子测定装置,其特征在于:
所述粒子测定装置具有一个配置有所述第一受光部件和所述第二受光部件两者的光检测器。
10.根据权利要求9所述的粒子测定装置,其特征在于:
所述第一受光部件和所述第二受光部件在与其受光面垂直的方向的位置是相同的。
11.根据权利要求2所述的粒子测定装置,其特征在于:
所述受光光学系统包括色差矫正透镜,该色差矫正透镜将通过第一照射位置的测定粒子产生的散射光聚集于所述第一受光部件,将通过第二照射位置的测定粒子产生的散射光聚集于所述第二受光部件。
12.根据权利要求1所述的粒子测定装置,其特征在于:
血红蛋白的吸收系数在所述第一波长和所述第二波长下不同。
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