[发明专利]测试仪有效
申请号: | 201410120773.3 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN103837814A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 江长海 | 申请(专利权)人: | 江长海 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/30;G01R1/04 |
代理公司: | 北京市金栋律师事务所 11425 | 代理人: | 邢江峰 |
地址: | 434101 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试仪 | ||
技术领域
本发明涉及元件测试、生产及应用领域,特别涉及测试仪。
背景技术
随着现代化工业的发展及人们生活水平的提高,各种电器在生产、生活中的各个层面得到了广泛的应用。为保证电器的可靠性并可实现有效的应用,因此,电子器件在生产过程中的检测就变得尤为重要。现有的电子器件检测可分为分立器件检测及集成电路检测,但在检测过程中,由于现有的分立器件检测装置及集成电路检测装置相互独立,从而不能同步使用,当需要进行分立器件检测时,只能在分立器件检测装置上进行,当需要进行集成电路检测时,只能在集成电路检测装置上进行,因此,无法进行同步检测。针对这一问题,现有技术中根据需要检测的个别分立器件制作检测盒或检测装置,与集成电路检测装置同时使用,但在使用过程中,当分立器件的类型发生变化时,就需要重新进行分立器件检测盒的制作,一方面,重新制作检测盒或装置的时间较长,延误生产,另外一方面,由于并非是专业的检测装置,因此,可靠性差、使用寿命低,从而直接影响了电子器件的检测及后道组装的质量、使用效率及有效性,使后续生产的电子产品的可靠性变差、使用及维修成本上升。
发明内容
为了克服现有技术中,多类型电子器件测试不便的问题,本发明的中提供了测试仪。
本发明提供的测试仪,包括:分立器件检测模块、集成电路检测模块及控制模块;所述控制模块的输出端与所述分立器件检测模块及集成电路检测模块的驱动输入端连接,根据当前检测器件的型号,驱动所述分立器件检测模块或集成电路检测模块进行检测。
在一种优选的实施方式中,所述分立器件检测模块或集成电路检测模块,通过控制总线与所述控制模块连接。
在一种优选的实施方式中,还包括:分立器件检测接口件及集成电路检测接口件;所述分立器件检测接口件与分立器件检测模块的输入端连接、所述集成电路检测接口件与集成电路检测模块的输入端连接。
在一种优选的实施方式中,还包括:可调电源模块,所述可调电源模块通过所述控制总线,与所述控制模块连接;所述控制模块中预存待检测器件的驱动电参数;根据当前检测器件的型号提取当前驱动电参数;根据所述当前驱动电参数驱动可调电源模块,驱动所述分立器件检测模块或集成电路检测模块进行检测。
在一种优选的实施方式中,所述控制模块还预存待检测器件的检测程序及所对应的检测正常值;若当前检测器件的型号为集成电路型号,则根据当前检测器件的型号提取当前检测程序及所对应的集成电路检测参考值;根据所述当前检测程序驱动所述集成电路检测模块进行检测;将当前检测值与所述集成电路检测参考值相比对,若匹配,则输出集成电路检测正确信息;若不匹配,则输出集成电路检测异常信息;若当前检测器件的型号为分立器件型号,则根据当前检测器件的型号提取所对应的分立器件检测参考值;将当前检测值与所述分立器件检测参考值相比对,若匹配,则输出分立器件检测正确信息;若不匹配,则输出分立器件检测异常信息。
在一种优选的实施方式中,还包括:外部分立器件检测模块及外部集成电路检测模块;所述外部分立器件检测模块及外部集成电路检测模块,通过所述控制总线与所述控制模块的输出端连接。
在一种优选的实施方式中,若所述控制模块输出集成电路检测异常信息,则根据设定次数,重新对集成电路检测模块进行检测;若所述控制模块输出分立器件检测异常信息,则根据设定次数,重新对分立器件检测模块进行检测。
在一种优选的实施方式中,若所述控制模块输出集成电路检测异常信息,则通过外部集成电路检测模块进行检测;若所述控制模块输出分立器件检测异常信息,则通过外部分立器件检测模块进行检测。
在一种优选的实施方式中,还包括:电路匹配数据模块,所述电路匹配数据模块通过所述控制总线与所述控制模块连接;所述电路匹配数据模块中预存,更新电路型号与预存检测器件型号的对应数据表。
在一种优选的实施方式中,若当前检测器件型号不存在,则判断所述当前检测器件型号是否为更新电路型号,若是,则根据当前检测器件类型检索所述对应数据表,获取预存检测器件型号;若否,则发出错误报警信息
由此可知,本发明中的测试仪具有以下优点:本发明通过,对分立器件检测装置与集成电路检测装置的集成,实现了两类器件的检测,并且可通过对不同集成电路的类型,设定相应的检测程序,实现对多种集成电路的检测。从而,提高了电子器件检测的可靠性及一致性,降低了电子器件的检测成本,提高了电子产品的生产效率及可靠性。
附图说明
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