[发明专利]一种X射线曝光自动检测的方法有效
| 申请号： | 201410115690.5 | 申请日： | 2014-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN103994823B | 公开（公告）日： | 2017-12-05 |
| 发明（设计）人： | 何祥瑞 | 申请（专利权）人： | 上海品臻影像科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/10 | 分类号： | G01J1/10 |
| 代理公司： | 上海京沪专利代理事务所(普通合伙)31235 | 代理人： | 周晓玲 |
| 地址： | 200331 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 射线 曝光 自动检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种X射线曝光自动检测的方法，其特征在于包含如下步骤： 1）在X射线影像探测器的像素阵上采集部分像素的读数；2）通过实时比较所述部分像素的读数的平均值与无X射线曝光条件下的数值，得到它们两者的差值；3）设阈值；所述阈值为判定有X射线的最小值；4）比较所述差值和阈值；差值大于阈值，则发生曝光；差值小于阈值，则不发生；5）若判断发生曝光，则进行再一次图像数据的读取；待再一次图像抓取完成后，则重新开始从步骤1）的部分像素读数采集；若判断未发生曝光，重新开始从步骤1）的部分像素读数采集，以此循环进行工作。
2.一种基于权利要求1所述的X射线曝光自动检测的方法，其特征在于：所述像素阵上的部分像素为一整行像素。
3.一种基于权利要求1所述的X射线曝光自动检测的方法，其特征在于：步骤3)中阈值设为无X射线曝光条件下部分像素的读数的标准方差的2到10倍。
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