[发明专利]一种嵌入式变转速轴承故障诊断装置有效

专利信息
申请号: 201410115079.2 申请日: 2014-03-26
公开(公告)号: CN103868694A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 严如强;钱宇宁;徐伟 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01M13/04 分类号: G01M13/04
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 杨晓玲
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 嵌入式 转速 轴承 故障诊断 装置
【权利要求书】:

1.一种嵌入式变转速轴承故障诊断装置,其特征在于,该装置包括按信号传输方向依次连接的信号输入模块(1)、转速调理模块(2)、核心运算模块(3)、核心控制模块(4),以及分别与所述信号输入模块(1)、转速调理模块(2)、核心运算模块(3)和核心控制模块(4)连接的电源模块(5);

所述信号输入模块(1)包括按信号传输方向依次连接的振动传感器(12)、信号放大器(13)、低通滤波器(14)和A/D转换模块(15),以及转速传感器(11),所述A/D转换模块(15)的输出端和转速传感器(11)的输出端分别与转速调理模块(2)输入端相连,A/D转换模块(15)将采集到的振动信号x(t)传输至转速调理模块(2),转速传感器(11)将转速信号传输至转速调理模块(2),其中t表示采样时间点,t=1,2,…,N,N为信号长度;

所述转速调理模块(2)为现场可编辑逻辑门阵列,对输入的振动信号x(t)进行等角度采样,得到等角度采样序列{X(1),X(2),…,X(t),…,X(N)}并传输至核心运算模块(3);

所述核心运算模块(3)为数字信号处理模块,运用经验模态分解阶比谱方法对输入的等角度采样序列{X(1),X(2),…,X(t),…,X(N)}进行分析,得到阶比谱数据并输入核心控制模块(4);

所述核心控制模块(4)包括嵌入式微处理器模块(41)、分别与所述嵌入式微处理器模块(41)的输出端连接的触摸显示模块(42)和存储器模块(43),所述嵌入式微处理器模块(41)的输入端与核心运算模块(3)的输出端连接,嵌入式微处理器模块(41)根据输入的阶比谱数据作出阶比谱图形,并利用阶比谱图形进行轴承故障诊断。

2.根据权利要求1所述的嵌入式变转速轴承故障诊断装置,其特征在于,所述核心运算模块(3)运用经验模态分解阶比谱方法对输入的等角度采样序列{X(1),X(2),…,X(t),…,X(N)}进行分析的具体步骤为:

1)找出等角度采样序列{X(1),X(2),…,X(t),…,X(N)}所有的极大值点和极小值点,采用三次样条插值函数拟合所有极大值点,得到上包络线,采用三次样条插值函数拟合所有极小值点,得到下包络线,然后求出上包络线和下包络线的均值M1(t),得到均值序列{M1(1),M1(2),…,M1(t),…,M1(N)},将每个等角度采样数据X(t)对应减去均值M1(t),得到新的采样数据IM1(t),组成一个新的采样数据序列{IM1(1),IM1(2),…,IM1(t),…,IM1(N)},并初始化计数器参数j=1;

2)找出新的采样数据序列{IM1(1),IM1(2),…,IM1(t),…,IM1(N)}所有的极大值点和极小值点,采用三次样条插值函数拟合所有极大值点,得到新的上包络线,采用三次样条插值函数拟合所有极小值点,得到新的下包络线,然后求出新的上包络线和新的下包络线的均值M2(t),得到新的均值序列{M2(1),M2(2),…,M2(t),…,M2(N)};

3)判断是否满足如是,则将新的采样数据序列{IM1(1),IM1(2),…,IM1(t),…,IM1(N)}作为第j个本征模态函数IMFj={IMFj(1),IMFj(2),…,IMFj(t),…,IMFj(N)}并进入步骤4),其中有IMFj(t)=IM1(t);否则根据IM1(t)=IM1(t)-M2(t)更新IM1(t),得到新的采样数据序列{IM1(1),IM1(2),…,IM1(t),…,IM1(N)}后返回步骤2);

4)判断是否满足j=k,k为设定的本征模态函数运算次数,k>2,如是,则进入步骤5);否则根据更新IM1(t),得到新的采样数据序列{IM1(1),IM1(2),…,IM1(t),…,IM1(N)},并令j=j+1后返回步骤2),其中i为本征模态函数的序号,也是计数器参数j在求和公式中的变量,i=1,2,…,j;

5)利用下式分别计算各个本征模态函数的能量香农熵比Ri,i=1,2,…,k,然后选出能量香农熵比最大的本征模态函数IMFmax(t);

Ri=Σt=1NIMFi2(t)-Σt=1N(IMFi2(t)Σt=1NIMFi2(t)log2IMFi2(t)Σt=1NIMFi2(t)),i=1,2,...,k]]>

6)利用下式对能量香农熵比最大的本征模态函数IMFmax={IMFmax(1),IMFmax(2),…,IMFmax(t),…,IMFmax(N)}进行希尔伯特变换,得到希尔伯特变换信号序列{y(1),y(2),…,y(t),…,y(N)}:

其中τ为积分中的采样时间点变量,τ=1,2,…,N,N为信号长度;

利用下式提取能量香农熵比最大的本征模态函数IMFmax的包络信号z(t):

z(t)=IMFmax2(t)+y2(t),]]>

对IMFmax的包络信号序列{z(1),z(2),…,z(t),…,z(N)}进行傅里叶变换,获得其阶比谱Z(f)=FFT(z(t)),作为最终输入核心控制模块(4)的阶比谱数据。

3.根据权利要求1所述的嵌入式变转速轴承故障诊断装置,其特征在于,所述嵌入式微处理器模块(41)利用阶比谱图形进行轴承故障诊断的方法为:根据阶比谱数据Z(f),以阶比f为横坐标,阶比谱数据Z(f)为纵坐标,作出二维图形,在所述二维图形当中找出阶比谱数据Z(f)的每个高峰点所对应的阶比f,然后将其分别与轴承的转动阶比、理论轴承转动体故障阶比、理论轴承外圈故障阶比、理论轴承内圈故障阶比进行比较,按照以下判断条件得到故障诊断结果:

如果所述的三个理论轴承故障阶比均不与任一阶比谱数据Z(f)高峰点所对应的阶比f相等,则判定轴承不存在故障;

如果存在一个阶比谱数据Z(f)高峰点所对应的阶比f等于理论轴承转动体故障阶比,则判定轴承存在转动体故障;

如果存在一个阶比谱数据Z(f)高峰点所对应的阶比f等于理论轴承外圈故障阶比,则判定轴承存在外圈故障;

如果存在一个阶比谱数据Z(f)高峰点所对应的阶比f等于理论轴承内圈故障阶比,则判定轴承存在内圈故障。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410115079.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top