[发明专利]一种超高精度频率测量仪及其测量方法无效
申请号: | 201410114653.2 | 申请日: | 2014-03-25 |
公开(公告)号: | CN103941086A | 公开(公告)日: | 2014-07-23 |
发明(设计)人: | 贺小军;曲宏松;张贵祥;郑亮亮;陶淑苹 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 张伟 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超高 精度 频率 测量仪 及其 测量方法 | ||
1.一种超高精度频率测量仪,其特征在于,包括:测量臂,参考臂以及主控系统;所述测量臂和参考臂分别与所述主控系统相连;
所述测量臂和参考臂均分别包括:晶振振荡单元和时钟传输单元;所述主控系统包括:时钟接收单元、时钟处理单元,相干解算单元以及通信单元;
所述晶振振荡单元包括晶振插座及外围电路,可为晶振正常振荡提供稳定的供电环境;所述时钟传输电路可将时钟信号转化为低压差分信号传输;
所述时钟接收单元可将LVDS传输的时钟转换为普通TTL电平;
所述时钟处理单元可对输入的时钟信号进行合适的分频;
所述相干解算可根据相干解算算法,解算出测量臂晶振频率相对于参考臂晶振的频率偏差值;
所述通信单元可完成参数输入及测量结果的输出。
2.根据权利要求1所述的超高精度频率测量仪的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤i:利用本征时钟F1测量被测时钟F2的分频信号,计算得到被测时钟F2的初值;设置循环次数;
步骤ii:设置本征时钟分频数N1为原来的n倍,根据公式设置被测时钟分频数N2,得到被测时钟F2的本次循环测量值;其中,n为大于1的自然数;
步骤iii:判断循环次数是否达到,如达到则继续步骤iv,如未达到则返回步骤ii;
步骤iv:测量精度达到要求,结束测量。
3.根据权利要求2所述的超高精度频率测量仪的测量方法,其特征在于,步骤i中的循环次数为6次。
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