[发明专利]基于反馈的指纹识别方法及装置有效
| 申请号: | 201410114499.9 | 申请日: | 2014-03-25 |
| 公开(公告)号: | CN103886296B | 公开(公告)日: | 2017-02-15 |
| 发明(设计)人: | 周杰;冯建江;程广权 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
| 主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/54 |
| 代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 张大威 |
| 地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 反馈 指纹识别 方法 装置 | ||
1.一种基于反馈的指纹识别方法,其特征在于,包括以下步骤:
细节点提取步骤,对查询指纹进行多通道滤波和二值化处理得到所述查询指纹的候选细节点集,并对所述查询指纹分为多个块,以根据所述多个块的方向场提取所述查询指纹的细节点;
配准参数确定步骤,根据所述查询指纹的细节点和方向场对所述档案指纹与所选择的所述查询指纹进行配准以确定所述查询指纹和所述档案指纹的配准参数;
细节点选择步骤,用于根据所述配准参数所配准的档案指纹方向场对所述查询指纹的方向场进行校正,并根据校正后的所述查询指纹的方向场选择所述查询指纹的细节点;
匹配分数计算步骤,计算所选取的细节点与所述档案指纹的细节点的匹配分数,其中
当第K次迭代的匹配分数大于第K‐1次迭代的匹配分数时,将所述第K次迭代所选择的细节点作为所述查询指纹的细节点,迭代执行所述配准参数确定步骤、所述细节点选择步骤及所述匹配分数计算步骤,否则采用所述第K‐1次迭代所选择的细节点作为所述查询指纹的最终细节点并终止迭代。
2.如权利要求1所述的基于反馈的指纹识别方法,其特征在于,所述细节点提取步骤包括:
对所接收到的查询指纹进行多通道滤波和二值化处理得到所述查询指纹的候选细节点集;
将所述查询指纹分为多个块,并计算所述多个块的傅立叶频谱,以根据所述多个块的傅立叶频谱获得各个块的方向场;
根据所述方向场在所述候选细节点集中提取所述查询指纹的细节点。
3.如权利要求1所述的基于反馈的指纹识别方法,其特征在于,所述配准参数确定步骤中,将所选择的所述查询指纹的细节点与所述档案指纹的细节点的误差小于预设范围的旋转角度值、水平偏移值和竖直偏移值作为候选配准参数,根据所述候选配准参数下档案指纹与查询指纹方向场之间的相似度选出最终配准参数。
4.如权利要求1所述的基于反馈的指纹识别方法,其特征在于,在所述细节点选择步骤中删除预设范围内的细节点以得到去除重复细节点的所述查询指纹的细节点。
5.如权利要求1所述的基于反馈的指纹识别方法,其特征在于,还包括:
确定步骤,对多个档案指纹的每个档案指纹重复所述配准参数确定步骤、所述细节点选择步骤和所述识别步骤以得到所述查询指纹与所述每个档案指纹的匹配分数,并根据该匹配分数确定与所述查询指纹相对应的档案指纹。
6.如权利要求1所述的基于反馈的指纹识别方法,其特征在于,在迭代执行所述配准参数确定步骤、所述细节点选择步骤及所述匹配分数计算步骤时,当迭代执行的次数大于预设的最大迭代次数N时结束迭代,并将当前的迭代所选择的细节点作为所述查询指纹的最终细节点。
7.一种基于反馈的指纹识别装置,其特征在于,包括:
细节点提取模块,用于对查询指纹进行多通道滤波和二值化处理得到所述查询指纹的候选细节点集,并对所述查询指纹分为多个块,以根据所述多个块的方向场提取所述查询指纹的细节点;
配准参数确定模块,用于根据所述查询指纹的细节点和方向场对所述档案指纹与所选择的所述查询指纹进行配准以确定所述查询指纹与所述档案指纹的配准参数;
细节点选择模块,用于根据所述配准参数所配准的档案指纹方向场对所述查询指纹的方向场进行校正,并根据校正后的所述查询指纹的方向场选择所述查询指纹的细节点;
匹配分数计算模块,用于计算所选取的细节点与所述档案指纹的细节点的匹配分数;
迭代模块,用于由所述配准参数确定模块、所述细节点选择模块及所述匹配分数计算模块进行迭代处理,当第K次迭代的匹配分数大于第K‐1次迭代的匹配分数时,将所述第K次迭代所选择的细节点作为所述查询指纹的细节点并进行下一迭代周期,否则采用所述第K‐1次迭代所选择的细节点作为所述查询指纹的最终细节点并终止迭代。
8.如权利要求7所述的基于反馈的指纹识别装置,其特征在于,所述细节点提取模块包括:
处理单元,用于对所接收到的查询指纹进行多通道滤波和二值化处理得到所述查询指纹的候选细节点集;
计算单元,用于将所述查询指纹分为多个块,并计算所述多个块的傅立叶频谱,以根据所述多个块的傅立叶频谱获得各个块的方向场;
细节点提取单元,用于根据所述方向场在所述候选细节点集中提取所述查询指纹的细节点。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华大学,未经清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410114499.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:副产高压蒸汽全石墨合成炉
- 下一篇:一种干燥钼酸的系统





