[发明专利]离子注入层的光学临近效应修正方法有效

专利信息
申请号: 201410109835.0 申请日: 2014-03-24
公开(公告)号: CN103869598B 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 陈翰;魏芳;张旭升;储志浩 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 王宏婧
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 离子 注入 光学 临近 效应 修正 方法
【权利要求书】:

1.一种离子注入层的光学临近效应修正方法,包括:

提供一离子注入层的相关层的版图,通过逻辑计算得到所述离子注入层的原始版图;

根据判定方法选出原始版图中单点相连的点;

将与单点相连的点相连的边从原始版图中分离去除;

对单点相连的图形中非单点相连处的边进行放大处理,对单点相连处的边不进行放大处理,对非单点相连图形进行放大处理;

合并单点相连的图形和非单点相连图形,得到离子注入层的预处理版图数据;

对所述预处理版图数据进行OPC修正,获得图形数据。

2.如权利要求1所述的离子注入层的光学临近效应修正方法,其特征在于,所述判定方法为:

所述原始版图按照设计时的最小格点分成多个片段,当原始版图上任意一个图形的任意一个顶点与另一图形的任意一顶点处于同一格点之上,且从该格点延伸出来的片段中的图形的边未重叠,则判断该点为单点相连的点。

3.如权利要求2所述的离子注入层的光学临近效应修正方法,其特征在于,所述最小格点尺寸为0.01nm~10nm。

4.如权利要求1所述的离子注入层的光学临近效应修正方法,其特征在于,所述原始版图中包括“岛”和“洞”类图形。

5.如权利要求4所述的离子注入层的光学临近效应修正方法,其特征在于,放大处理包括:预先按预处理规则设定好各图形进行放大处理的临界值,当“岛”类图形的边大于设置的对应临界值时,对其进行放大,当“洞”类图形的边小于设置的对应临界值时,对其进行放大。

6.如权利要求5所述的离子注入层的光学临近效应修正方法,其特征在于,将对应边按比例或者一定尺寸进行放大。

7.如权利要求6所述的离子注入层的光学临近效应修正方法,其特征在于,将对应边按放大原尺寸的2%~20%进行放大。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司,未经上海华力微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410109835.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top