[发明专利]测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及电容的耐久性测试，特别是涉及一种提高电解电容耐久性测试结果正确性与有效性的测试装置。

背景技术

目前进行电容普通耐久性测试时，通常将额定电压相同的电容按照不同的生产厂家并联后接入直流电源进行试验，因此，存在同一电源连接多个厂家、多个规格的电容进行测试。图1为传统测试装置的电路图，A厂家、B厂家和C厂家生产的电容并联后接入VCC电源。测试过程中，当异常情况发生时，假定A厂家的电容发生短路被击穿失效时，未失效的B厂家和C厂家的电容均可通过短路的A厂家的电容放电，短路放电时会产生较大的电流，该电流会反作用在B厂家和C厂家的电容上，此时极易导致B厂家和C厂家的电容发生连环击穿而导致失效。在上述情况下，很难定位故障的电容，容易造成错误判断，降低了试验结果的准确性和有效性。

发明内容

基于上述问题，本发明提供一种防止被测电容间相互干涉，避免误判，提高试验准确性与有效性的电容耐久性测试装置。

为达到技术目的，本发明采用如下技术方案：

一种测试装置，用于电容耐久性的测试，包括第一支路，所述第一支路包括控制开关和二极管，所述控制开关、二极管和被测电容依次串联在电路中，所述控制开关的第一端连接电源的正极或负极，所述控制开关的第二端依次串联所述二极管和被测电容后连接至电源的负极或正极，所述二极管和被测电容的相应公共端连接至所述控制开关的第三端；

所述控制开关的第一端与第二端导通时，所述被测电容充电；所述控制开关的第一端与第三端导通时，所述被测电容放电。

在其中一个实施例中，所述控制开关为单刀双掷开关。

在其中一个实施例中，所述二极管的数量为两个以上，两个以上所述二极管并联设置。

在其中一个实施例中，所述二极管和被测电容的相应公共端串联电阻连接至所述控制开关的第二端。

在其中一个实施例中，所述第一支路的数量为多个，多个第一支路并联设置在电路中，每个所述第一支路对应一个被测电容。

在其中一个实施例中，所述电源还连接有阻抗电路。

本发明的测试装置，将二极管与被测电容串联，由于二极管的单向导电性，在正向偏置时电阻很小，反向偏置时则具有很大电阻，测试过程中即使某一电容出现故障造成短路，也不会影响到其它电容，该测试装置防止了被测电容间的相互干涉，避免了对故障电容的错误判断，确保了测试结果的准确性与有效性。

附图说明

图1为传统测试装置的电路图；

图2为本发明测试装置一实施例的电路图。

具体实施方式

下面将结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本发明提供一种测试装置，用于电容耐久性的测试，尤其适用于额定电压相同的电解电容耐久性的测试，该装置有效避免了被测电容间的相互干涉，保证了测试结果的准确有效。

参见图2，对A、B、C三个厂家生产的电容进行测试。本发明的测试装置包括第一支路100，优选地，作为一种可实施方式，第一支路100的数量为多个，多个第一支路100并联设置在电路中，每个第一支路100均对应一个被测电容。其中，第一支路100包括控制开关和二极管。控制开关、二极管和被测电容依次串联在电路中，控制开关的第一端K1连接电源的正极或负极，控制开关的第二端K2依次串联二极管和被测电容后连接至电源的负极或正极；二极管和被测电容的相应公共端连接至控制开关的第三端K3。

需要说明的是，本发明中，二极管相对于电源为正向偏置，即二极管的正极连接电源的正极，二极管的负极连接电源的负极，在被测电容充电的过程中，二极管电阻很小，几乎为0。由于电容的外壳一般为金属材料，容易积聚感应电荷，因此，在测试过程中，将电容的一端接地，以增加测试过程的安全性。

当控制开关的第一端K1与第二端K2导通时，电路中有电流流通，被测电容两端分别获得数量相等的相反电荷，此时电容充电，其两端的电位差逐渐增大，一旦电容两端电压增大至与电源电压相等时，电容充电完毕，电路中没有电流流动；当控制开关的第一端K1与第三端K3导通时，被测电容进行放电，其两端的电压会逐渐下降为0。