[发明专利]一种适用于深层卤水阻垢剂性能评价方法

权利要求书

1.一种适用于深层卤水阻垢剂性能评价方法，包括如下步骤：

（1）室温下，测深层卤水中离子浓度及全盐量，得初始离子浓度，采取深层卤水中的垢样，对垢样成分进行X射线衍射分析，根据分析结果，确定深层卤水中在提取过程中易析晶、结垢的离子；初始离子浓度中易析晶、结垢离子的浓度为初始易析晶、结垢离子浓度；

（2）向待测深层卤水中加入阻垢剂，阻垢剂的投加量为每升待测卤水加入20～30mg的阻垢剂，然后于70～80℃的恒温水浴中加热浓缩，每隔15min取样一次，直至浓缩至含阻垢剂的深层卤水水样原体积的3/5～4/5，制得深层卤水水样浓缩液，记做平行样；取待测深层卤水，不加阻垢剂，同等条件下做空白样；

（3）将步骤（2）的深层卤水水样浓缩液加水稀释500～600倍，加入浓硝酸进行消解，所述浓硝酸的加入量为稀释后深层卤水水样浓缩液体积的1/10～2/10，然后加热煮沸至水样样品透明清澈，冷却至室温后加入质量分数为2～5%的硝酸定容，制得待测平行样，空白样同等条件下做同样处理，制得待测空白样；

（4）用电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）分别测待测平行样、待测空白样中易析晶、结垢离子的浓度，

（5）易析晶、结垢离子阻垢率η(％)的计算：

将步骤（4）测得的待测平行样、待测空白样中易析晶、结垢离子的浓度数据代入公式：η=Ce-CoCb-Co]]>

式中，η为阻垢率，%；

C_e为待测平行样中易析晶、结垢离子浓度，mg/L，

C_o为待测空白样易析晶、结垢离子浓度，mg/L；

Cb为初始易析晶、结垢离子浓度乘以理想浓缩倍数k

理想浓缩倍数k=待测平行样中Br-浓度／初始离子Br-浓度。

2.根据权利要求1所述的适用于深层卤水阻垢剂性能评价方法，其特征在于，还包括以下步骤：

通过步骤（5）的理想浓缩倍数k和易析晶、结垢离子浓缩倍数σ对深层卤水阻垢剂性能进行评价，以理想浓缩倍数k为横坐标，易析晶、结垢离子浓缩倍数σ为纵坐标，绘制地下深层卤水无结垢理想浓缩曲线和易析晶、结垢离子的浓缩曲线图，无结垢理想浓缩曲线是以理想浓缩倍数k为横坐标，σ为纵坐标进行绘制，k=σ；平行样（原水）浓缩曲线是以理想浓缩倍数k为横坐标，实际浓缩倍数σ为纵坐标进行绘制，易析晶、结垢离子的浓缩曲线图，上述曲线中的点为每隔15min取样一次的点值，离无结垢理想浓缩曲线的远近，代表阻垢效果的强弱，离无结垢理想浓缩曲线近的，阻垢剂的阻垢效果越好，离无结垢理想浓缩曲线远的，阻垢剂的阻垢效果越弱，

其中，易析晶、结垢离子浓缩倍数σ=待测平行样中易析晶、结垢离子浓度／初始易析晶、结垢离子浓度。

3.根据权利要求1所述的适用于深层卤水阻垢剂性能评价方法，其中特征在于，步骤（1）中全盐量是采用重量法测得的，地下卤水中初始离子浓度是采用离子选择电极法、分光光度法、比浊法和电感耦合等离子发射光谱法测得。

4.根据权利要求3所述的适用于深层卤水阻垢剂性能评价方法，其中特征在于，地下卤水中阴离子的初始离子浓度是用离子选择电极法、分光光度法、比浊法测得，阳离子的初始离子浓度是用电感耦合等离子发射光谱法测得。

5.根据权利要求1所述的适用于深层卤水阻垢剂性能评价方法，其中特征在于，步骤（3）中浓硝酸的质量分数为65～68%。