[发明专利]显示面板检测结构、显示面板及显示装置

说明书

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种显示面板检测结构、显示面板及显示装置。

背景技术

在薄膜晶体管液晶显示装置（TFT-LCD）产品中，随着用户体验需求的不断提升，对高分辨率（PPI）产品的需求也不断提高。因此为了满足高清像素产品的需求，与以往的显示面板的尺寸相同的显示面板中将设置更多的像素单元（也就是此时的数据线与扫描线的数量增加），此时以往在Fanout区（扇形区）用于检测显示面板中是否存在数据线线不良（X-Line）的检测结构的正常数据信号线和开关信号线（Switch）（在检测数据信号线和开关信号线的交叉处设置有检测开关单元）的布线方式已经不能满足高PPI设计要求，需要将检测开关单元从原先的2排增加到6排设计来满足显示面板的数据线的密集排线方式。但也带来很多不良，其中主要是在生产过程中设备与基板之间容易产生静电，在显示面板检测结构的1/2处产生静电释放（ESD）（也就是图中a的位置），导致E/T下出现6%线不良（X-Line）。

如图1所示，为现有技术中设于Fanout区的一种显示面板检测结构，包括：数据信号端口101、检测数据信号线103、开关信号线102，以及设置检测数据信号线103与开关信号线102交叉处的检测开关单元K；所述检测数据信号线103通过所述检测开关单元K与其对应的数据信号端口101连接；设于同一列的检测开关单元K串连在一起，并通过同一根开关信号线102控制，且两相邻列的检测开关单元K通过不同的开关信号线102控制。在制造成产该显示面板的检测结构过程中，容易受到环境静电的影响，根据产品的抗静电能力为8000V，说明很容易在Fanout区中心线的右侧靠近显示面板的第一个检测开关单元K的位置发生ESD，给产品的稳定良率带来严重影响，急需找到可行的办法来彻底杜绝该不良发生。通过对称点及其他位置的设计上对比，推测只有在出现ESD点的固定位置是最容易聚集电荷，在没有其他渠道分散电荷的条件下，容易产生高温，使Gate（栅极）和SD（源漏极）金属击穿，产生短路（short）。因此，如何将Fanout区第一个检测开关单元K处a的电荷分散成为关键因素。

通过已有的设计，如图2所示。将正常的Fanout区的第一、二个检测开关单元K用激光切断，标记为模拟Dummy Switch（冗余开关单元Q）区，因此，右侧方框里的检测开关单元K将成为实际Fanout区中心线右侧的第一个检测开关单元Kb。之后将该SD Cutting处用10000V静电连续击打5次，通过镜检之后，21片中出现3片该位置ESD，因此，可判断该ESD与图1中a位置的第一个检测开关单元K下面的SD线无关，同时，也验证了在第一个检测开关单元K左侧增加一个同样设计的Dummy Switch能够有效预防ESD的发生。

发明内容

本发明所要解决的技术问题包括，针对现有的显示面板检测结构存在的上述问题，提供一种避免检测开关单元K的ESD产生的显示面板检测结构及显示面板。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板检测结构，包括：数据信号端口、检测数据信号线、开关信号线，以及设置于检测数据信号线与开关信号线交叉处的检测开关单元，至少在所述显示面板检测结构的中心线靠近显示面板的第一个检测开关单元的一侧设置有与该检测开关单元处于同一行的一个冗余开关单元，所述冗余开关单元的一端与数据信号端口连接，另一端与冗余数据信号线连接，并通过所述开关信号线控制。

本发明的显示面板检测结构的中心线靠近显示面板的第一个检测开关单元的一侧增加了冗余开关单元，此时该冗余开关单元的位置就相当于现有技术中的显示面板检测结构的中心线靠近显示面板的第一个检测开关单元所在的位置，也就是说在制备过程中产生的ESD后聚集的电荷将分散到该冗余开关单元上，此时产生的高温将不会击穿检测开关单元，从而避免发生短路的现象。

优选的是，设于同一行的两相邻所述检测开关单元之间均设置有所述冗余开关单元。

进一步优选的是，设于同一行的所述检测开关单元和所述冗余开关单元与同一所述数据信号端口连接。

进一步优选的是，设于同一列的所述冗余开关单元串联在一起并与同一开关信号线连接。

进一步优选的是，相邻设置的冗余开关单元和检测开关单元通过不同的开关信号线控制。

优选的是，所述冗余开关单元和所述检测开关单元均为薄膜晶体管。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板，其包括上述显示面板检测结构。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示装置，其包括上述显示面板。