[发明专利]靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法

权利要求书

1.一种靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：

1）根据需要被测姿态测量设备确定模拟目标；

2）根据模拟目标选用姿态板；

3）将姿态板安装在平行光管上，并使姿态板位于平行光管焦平面处；

4）将平行光管固定在可倾斜桁架上；

5）采用高精度经纬仪或全站型电子速测仪对姿态板中心点进行测量，同时记录姿态板中心点的方位俯仰角（A₀,E₀）；

6）采用高精度经纬仪对模拟目标进行多点测量，同时记录各测量点的方位俯仰角（A_i,E_i），其中，i=1,2,3,…,n；

7）根据步骤5）中所获取的姿态板中心点的方位俯仰角（A₀,E₀）以及步骤6）中所获取的模拟目标的各测量点的方位俯仰角（A_i,E_i）对各模拟目标的姿态进行拟合，得到各模拟目标的倾角的真值；

8）计算被姿态测量设备像面上姿态板中心点的像到各模拟目标的像的距离；

9）被测姿态测量设备对模拟目标进行动态成像，经过图像判读系统输出各目标像的倾角及姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离；

10）将步骤9）所中被测姿态测量设备获得的各目标像的倾角及姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离与步骤7）和步骤8）所得到的各模拟目标的倾角和姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离的真值进行比较，得到将姿态测量设备的姿态测量精度。

2.根据权利要求1所述的靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法，其特征在于：所述步骤1）的具体实现方式是：

根据被测姿态测量设备的工作波段选择相应的目标模拟方案，靶场常用光学测量设备分为可见光测量设备以及红外光学测量设备。

3.根据权利要求2所述的靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法，其特征在于：所述步骤2）的具体实现方式是：

所述姿态板包括玻璃姿态板和金属姿态板；

所述姿态板上目标的尺寸的确定方式是：

l=LR·f′]]>

式中：

R——目标的距离，单位：m；

f′——平行光管焦距，单位：mm；

L——被测目标的尺寸，单位：m；

l——姿态板上目标尺寸，单位：mm。

4.根据权利要求3所述的靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法，其特征在于：所述步骤5）的具体实现方式是：

用高精度经纬仪或者全站型电子速测仪进行精确调平，测量姿态板中心点坐标，记录其方位俯仰角为（A₀,E₀）。

5.根据权利要求4所述的靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法，其特征在于：所述步骤6）的具体实现方式是：

用高精度经纬仪对各模拟目标进行多点测量，在测量时根据目标大小及形状确定是沿目标的边缘选取测量点还是沿目标的中轴线选取测量点；在目标较窄时可选择沿目标中轴线选取测量点，在目标较宽时沿目标边缘选取测量点，测量点数不低于10个，选取的测量点在目标上均匀分布。