[发明专利]采用均匀圆阵快速测定空间谱的方法

权利要求书

1.采用均匀圆阵快速测定空间谱的方法，包括：

步骤1.初始化处理：将均匀圆阵的径波比、天线个数、信号个数、搜索的角度范围、相邻搜索角度之间的间隔角度、所有搜索的角度的个数P进行初始化处理并存入内存；

步骤2.确定各方向向量的对偶向量：先确定均匀圆阵方向向量子集中的方向向量个数，再确定均匀圆阵方向向量子集，然后对均匀圆阵方向向量子集中的每个方向向量进行快速离散傅立叶变换，从而确定均匀圆阵方向向量子集中的每个方向向量的对偶向量；

步骤3.确定信号子空间中各个列向量的对偶向量：先确定用于表示均匀圆阵的样本自相关矩阵信号子空间的所有列向量，再对均匀圆阵的样本自相关矩阵的信号子空间中的每个列向量进行快速离散傅立叶变换，并取共轭，从而确定信号子空间中的每个列向量的对偶向量；

步骤4.快速逆离散傅立叶变换处理以确定各谱向量：将方向向量子集中的第1个方向向量的对偶向量分别与信号子空间中的第1个至最后一个列向量的对偶向量的对应元素相乘，得到与信号个数相等个积向量；再对每个积向量分别进行快速逆离散傅立叶变换处理，得到一组个数与信号个数相等、其元素个数与天线个数相同的谱向量；然后再依次将方向向量子集中的第2个至最后一个个方向向量的对偶向量分别与信号子空间中的第1个至最后一个列向量的对偶向量的对应元素相乘，再对所得的各积向量分别进行快速逆离散傅立叶变换处理，得到相应的其余各组谱向量后，一并转步骤5；

步骤5.确定与所有搜索角度对应的空间谱：对步骤4所得每一组谱向量均按：将该组各谱向量中的各个元素分别取绝对值并平方，然后再将各谱向量中平方后的对应元素分别相加，所得各和值即分别为与相应搜索角度对应的空间谱值；继而按相同方法得到其余各组谱向量与各搜索角度对应的空间谱值；从而得到由天线个数与方向向量子集中方向向量个数的乘积个空间谱值组成的空间谱。

2.按权利要求1所述采用均匀圆阵快速测定空间谱的方法，其特征在于在步骤1中所述所有搜索的角度的个数P＝[360°/d]，360°是搜索的角度范围，d为相邻搜索角度之间的间隔角度。

3.按权利要求1所述采用均匀圆阵快速测定空间谱的方法，其特征在于在步骤2中所述确定均匀圆阵方向向量子集中的方向向量个数Q＝[P/M]，所述确定均匀圆阵方向向量子集为{a(θ_q)}_q＝1,2,…,_Q，其中，

a(θq)=ej2παcos(θq)ej2παcos(θq-1M2π)...ej2παcos(θq-M-1M2π)T,]]>

α表示均匀圆阵的径波比，[]^T表示向量转置，θ_q＝(q-1)d，q＝1,2,…,Q。