[发明专利]用于气体存储的多孔纳米管存储介质及方法有效

专利信息
申请号: 201410095873.5 申请日: 2014-03-14
公开(公告)号: CN103883872A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 孙刚;徐莉梅;王恩哥;基拉瓦特·唐巴尼达侬 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: F17C3/00 分类号: F17C3/00;F17C13/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 代理人: 周政
地址: 100871 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 用于 气体 存储 多孔 纳米 介质 方法
【权利要求书】:

1.一种用于气体存储的多孔纳米管存储介质,包括具有多个空位缺陷的单壁碳纳米管。

2.如权利要求1所述的用于气体存储的多孔纳米管存储介质,其特征在于,所述气体包括氢气,氧气,二氧化氮。

3.如权利要求1或2所述的用于气体存储的多孔纳米管存储介质,其特征在于,所述气体为氢气时,所述空位缺陷含的空位碳原子数目小于8。

4.如权利要求1所述的用于气体存储的多孔纳米管存储介质,其特征在于,所述空位缺陷通过离子束轰击方法制造得到。

5.一种用于气体存储的方法,包括以下步骤:

1)在单壁碳纳米管上制造出多个空位缺陷;

2)在低温下,将带有空位缺陷的单壁碳纳米管放入待存储气体环境中,使得待存储气体分子被物理吸附在碳纳米管内部和外部。

6.如权利要求5所述的用于气体存储的方法,其特征在于,所述气体包括氢气,氧气,二氧化氮。

7.如权利要求5所述的用于气体存储的方法,其特征在于,步骤1)中,通过离子束轰击方法在单壁碳纳米管上制造出多个空位缺陷。

8.如权利要求5或6所述的用于气体存储的方法,其特征在于,所述气体为氢气时,步骤1)中所述空位缺陷含的空位碳原子数目小于8。

9.如权利要求5所述的用于气体存储的方法,其特征在于,步骤2)中,所述低温为100K以下,高于液氮温度。

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