[发明专利]微位移标定仪及其使用方法有效

专利信息
申请号: 201410093482.X 申请日: 2014-03-13
公开(公告)号: CN103900512B 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 王世军;杨超 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02
代理公司: 西安弘理专利事务所61214 代理人: 李娜
地址: 710048*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 位移 标定 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.微位移标定仪,其特征在于,包括弹性体(1)和螺杆(2),所述弹性体(1)包括上下薄壁,上下薄壁的一端连接处设有带水平通孔的矩形块,所述矩形块的左右两端分别设有端盖(6),所述螺杆(2)贯穿上下薄壁,螺杆(2)下端与位移传感器(4)接触。

2.如权利要求1所述的微位移标定仪,其特征在于,所述位移传感器(4)固定在套筒(3)内,所述套筒(3)与弹性体(1)固定连接。

3.如权利要求2所述的微位移标定仪,其特征在于,所述螺杆(2)和套筒(3)通过螺纹联接,所述位移传感器(4)通过螺钉(7)固定在套筒(3)内。

4.如权利要求1-3任一项所述的微位移标定仪,其特征在于,所述弹性体(1)上下两个薄壁中间位置垂直设有两个同轴的孔,所述螺杆(2)穿过这两个同轴的孔。

5.如权利要求4所述的微位移标定仪,其特征在于所述:弹性体(1)上下两个薄壁中间部位为凸台,所述两个同轴的孔设置在凸台的中间位置。

6.如权利要求5所述的微位移标定仪,其特征在于,所述弹性体(1)下薄壁的凸台下端面设有凹槽,所述套筒(3)外圆的上端部为圆台状,有两个平行的平面,所述两个平行的平面与该凹槽配合。

7.如权利要求1-6所述的微位移标定仪的使用方法,其特征在于,先测定所述弹性体(1)的垂直接近量与水平接近量的比例系数I,再对待标定位移传感器进行标定。

8.如权利要求7所述的微位移标定仪的使用方法,其特征在于,包括以下步骤:

第一步,先将高精度微位移传感器固定在矩形块的水平通孔(8)中,并通过两个端盖(6)固定;然后转动螺杆(2),拉近弹性体(1)的上下两个薄壁,弹性体(1)内部出现弹性应力和变形,弹性体(1)的两个薄壁之间的垂直接近量通过螺杆(2)下端的伸出量由位移传感器(4)测得;矩形块的左右两个端面的水平接近量通过两个端盖(6)由高精度微位移传感器测得;螺杆(2)转动到不同的位置,拟合出垂直接近量和水平接近量之间的比例系数I;

第二步,将高精度微位移传感器从矩形块的水平通孔(8)中取出,将待标定的微位移传感器(5)置于矩形块的水平通孔(8)中,并通过两个端盖(6)固定;转动螺杆(2),位移传感器(4)测出螺杆(2)的伸出量,即弹性体(1)两个薄壁之间的垂直接近量,矩形块的左右两个端面的水平接近量由待标定微位移传感器(5)以电压变化的形式输出,这个水平接近量与输出电压的变化值的比值,就是待标定的微位移传感器(5)的灵敏度。

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