[发明专利]一种提升增益变化范围的低温度系数可变增益放大器有效

专利信息
申请号: 201410086961.9 申请日: 2014-03-10
公开(公告)号: CN103905002A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 吴建辉;赵超;陈超;李红;黄成 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H03F1/30 分类号: H03F1/30;H03F3/30
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 张学彪
地址: 214135 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 提升 增益 变化 范围 温度 系数 可变 放大器
【权利要求书】:

1.一种提升增益变化范围的低温度系数可变增益放大器,其特征在于,包括可变增益电路、交叉耦合温度补偿电路和增益控制电路;

其中,所述可变增益电路包括第一P型金属氧化物晶体管(P1)、第二P型金属氧化物晶体管(P2)、第一N型金属氧化物晶体管(N1)、第二N型金属氧化物晶体管(N2)、第三N型金属氧化物晶体管(N3)、第四N型金属氧化物晶体管(N4)、第五N型金属氧化物晶体管(N5)、第六N型金属氧化物晶体管(N6)、第七N型金属氧化物晶体管(N7)、第八N型金属氧化物晶体管(N8)、第九N型金属氧化物晶体管(N9)、第十N型金属氧化物晶体管(N10)、第十一N型金属氧化物晶体管(N11)、第十二N型金属氧化物晶体管(N12)、第十三N型金属氧化物晶体管(N13)、第十四N型金属氧化物晶体管(N14)、第十五N型金属氧化物晶体管(N15)、第十六N型金属氧化物晶体管(N16)和第一电流源(I1);

所述第一P型金属氧化物晶体管(P1)的栅极和所述第二P型金属氧化物晶体管(P2)的栅极连接;

所述第一P型金属氧化物晶体管(P1)的源极和所述第二P型金属氧化物晶体管(P2)的源极连接;

所述第一P型金属氧化物晶体管(P1)的漏极、所述第一N型金属氧化物晶体管(N1)的栅极、所述第七N型金属氧化物晶体管(N7)的漏极和所述第九N型金属氧化物晶体管(N9)的漏极连接;

所述第二P型金属氧化物晶体管(P2)的漏极、所述第二N型金属氧化物晶体管(N2)的栅极、所述第八P型金属氧化物晶体管(N8)的漏极和所述第十N型金属氧化物晶体管(N10)的漏极连接;

所述第九N型金属氧化物晶体管(N9)的栅极、所述第十N型金属氧化物晶体管(N10)的栅极、所述第十五N型金属氧化物晶体管(N15)的栅极、所述第十六N型金属氧化物晶体管(N16)的栅极、所述第十三N型金属氧化物晶体管(N13)的栅极、所述第一电流源(I1)和所述第十六N型金属氧化物晶体管(N16)的漏极连接; 

所述第七N型金属氧化物晶体管(N7)的源极、所述第九N型金属氧化物晶体管(N9)的源极、第十一N型金属氧化物晶体管(N11)的漏极、第十三N型金属氧化物晶体管(N13)的漏极和第十二N型金属氧化物晶体管(N12)的栅极连接;

所述第八N型金属氧化物晶体管(N8)的源极、所述第十N型金属氧化物晶体管(N10)的源极、第十二N型金属氧化物晶体管(N12)的漏极、第十五N型金属氧化物晶体管(N15)的漏极和第十一N型金属氧化物晶体管(N11)的栅极连接;

所述第十三N型金属氧化物晶体管(N13)的源极、所述第十四N型金属氧化物晶体管(N14)的源极、所述第十五N型金属氧化物晶体管(N15)的源极和所述第十六N型金属氧化物晶体管(N16)的源极连接并接地;

所述第十一N型金属氧化物晶体管(N11)的源极、第十二N型金属氧化物晶体管(N12)的源极和所述第十四N型金属氧化物晶体管(N14)的漏极连接;

第一N型金属氧化物晶体管(N1)的漏极、第一N型金属氧化物晶体管(N1)的栅极、第三N型金属氧化物晶体管(N3)的栅极和第四N型金属氧化物晶体管(N4)的漏极连接;

第二N型金属氧化物晶体管(N2)的漏极、第二N型金属氧化物晶体管(N2)的栅极、第四N型金属氧化物晶体管(N4)的栅极和第三N型金属氧化物晶体管(N3)的漏极连接;

第三N型金属氧化物晶体管(N3)的源极、第四N型金属氧化物晶体管(N4)的源极和第六N型金属氧化物晶体管(N6)的漏极相连;

第一N型金属氧化物晶体管(N1)的源极、第二N型金属氧化物晶体管(N2)的源极和第五N型金属氧化物晶体管(N5)的漏极连接;

第五N型金属氧化物晶体管(N5)的源极和第六N型金属氧化物晶体管(N6)的源极连接并接地;

所述第七N型金属氧化物晶体管(N7)的栅极和所述第八N型金属氧化物晶体管(N8)的栅极分别作为正相输入端(Vip)和负相输入端(Vin);所述第一P型金属氧化物晶体管(P1)的漏极和所述第二P型金属氧化物晶体管(P2)的漏极分别作为反相输出(Von)和正相输出(Vop);

所述交叉耦合温度补偿电路包括第三P型金属氧化物晶体管(P3)、第四P型金属氧化物晶体管(P4)、第十七N型金属氧化物晶体管(N17)、第十八N型金属氧化物晶体管(N18)、第十九N型金属氧化物晶体管(N19)和第一电阻(R1);

所述第三P型金属氧化物晶体管(P3)的栅极、所述第四P型金属氧化物晶体管(P4)的栅极和所述第十七N型金属氧化物晶体管(N17)的漏极连接;

所述第十七N型金属氧化物晶体管(N17)的源极、所述第十八N型金属氧化物晶体管(N18)的栅极、所述第十八N型金属氧化物晶体管(N18)的漏极和所述第十九N型金属氧化物晶体管(N19)的栅极连接;

所述第四P型金属氧化物晶体管(P4)的漏极、所述第十九N型金属氧化物晶体管(N19)的漏极、所述第十七N型金属氧化物晶体管(N17)的漏极和所述第十七N型金属氧化物晶体管(N17)的栅极连接;

所述第三P型金属氧化物晶体管(P3)的漏极、所述第十八N型金属氧化物晶体管(N18)的栅极和所述第十八N型金属氧化物晶体管(N18)的漏极连接;

所述第十八N型金属氧化物晶体管(N18)的源极和所述第十九N型金属氧化物晶体管(N19)源极通过所述第一电阻(R1)连接,所述第十八N型金属氧化物晶体管(N18)的源极接地;

所述第十八N型金属氧化物晶体管(N18)的栅极与所述第六N型金属氧化物晶体管(N6)的栅极连接。

2. 如权利要求1所述的提升增益变化范围的低温度系数可变增益放大器,其特征在于,所述增益控制电路包括第五P型金属氧化物晶体管(P5)、第六P型金属氧化物晶体管(P6)、第七P型金属氧化物晶体管(P7)、第八P型金属氧化物晶体管(P8)、第九P型金属氧化物晶体管(P9)、第十P型金属氧化物晶体管(P10)、第二十N型金属氧化物晶体管(N20)、第二十一N型金属氧化物晶体管(N21)、第二十二N型金属氧化物晶体管(N22)、第二十三N型金属氧化物晶体管(N23)、第二十四N型金属氧化物晶体管(N24)、第二十五N型金属氧化物晶体管(N25)、第二十六N型金属氧化物晶体管(N26)和第二电阻(R2),

    所述第五P型金属氧化物晶体管(P5)的源极、第六P型金属氧化物晶体管(P6)的源极、第七P型金属氧化物晶体管(P7)的源极、第八P型金属氧化物晶体管(P8)的源极、第九P型金属氧化物晶体管(P9)的源极和第十P型金属氧化物晶体管(P10)的源极连接;

    所述第五P型金属氧化物晶体管(P5)的漏极、所述第六P型金属氧化物晶体管(P6)的漏极、所述第二十二N型金属氧化物晶体管(N22)的栅极和所述第二十二N型金属氧化物晶体管(N22)的漏极连接;

    所述第七P型金属氧化物晶体管(P7)的栅极和所述第八P型金属氧化物晶体管(P8)的栅极连接;

    所述第八P型金属氧化物晶体管(P8)的漏极、所述第二十三N型金属氧化物晶体管(N23)的漏极和所述第二十三N型金属氧化物晶体管(N23)的栅极连接;

    所述第九P型金属氧化物晶体管(P9)的漏极、所述第二十四N型金属氧化物晶体管(N24)的漏极、所述第二十一N型金属氧化物晶体管(N21)的栅极、所述第二十四N型金属氧化物晶体管(N24)的栅极、所述第二十五N型金属氧化物晶体管(N25)的栅极和所述第二十六N型金属氧化物晶体管(N26)的源极连接;

    所述第九P型金属氧化物晶体管(P9)的栅极、所述第十P型金属氧化物晶体管(P10)的栅极、所述第十P型金属氧化物晶体管(P10)的漏极、所述第二十六N型金属氧化物晶体管(N26)的栅极、所述第二十六N型金属氧化物晶体管(N26)的漏极、所述第二十五N型金属氧化物晶体管(N25)的漏极和所述第六P型金属氧化物晶体管(P6)的栅极连接;

    所述第二十N型金属氧化物晶体管(N20)的源极、所述第二十一N型金属氧化物晶体管(N21)的源极、所述第二十二N型金属氧化物晶体管(N22)的源极、所述第二十三N型金属氧化物晶体管(N23)的源极、所述第二十四N型金属氧化物晶体管(N24)的源极和所述第二十五N型金属氧化物晶体管(N25)的源极均连接并接地;

    所述第二十N型金属氧化物晶体管(N20)的漏极、所述第二十一N型金属氧化物晶体管(N21)的漏极和所述第七P型金属氧化物晶体管(P7)的漏极连接;

    所述第二十五N型金属氧化物晶体管(N25)的源极和接地点之间设置有所述第二电阻(R2)。

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