[发明专利]有机发光显示面板有效
| 申请号: | 201410086791.4 | 申请日: | 2014-03-11 | 
| 公开(公告)号: | CN104217672B | 公开(公告)日: | 2018-07-24 | 
| 发明(设计)人: | 金知惠 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 | 
| 主分类号: | G09G3/3225 | 分类号: | G09G3/3225;G09G3/00 | 
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 张云珠;邱玲 | 
| 地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 有机 发光 显示 面板 | ||
1.一种有机发光显示面板,所述有机发光显示面板包括:
面板测试单元,连接到多条数据线的第一端,被构造成输出用于测试多个像素的面板测试信号;
多个数据焊盘,连接到所述多条数据线的第二端;以及
阵列测试单元,被构造成根据多个阵列测试控制信号向像素单元的像素列选择性地施加多个阵列测试信号,检测从被施加所述多个阵列测试信号的像素列输出的信号;
线测试单元,被构造成输出用于测试数据线的第二端中的断路或短路的线测试信号,
其中,阵列测试单元包括被构造成接收所述多个阵列测试信号的多个阵列测试焊盘,每个阵列测试焊盘连接到所述多个数据焊盘之中的不同的组的数据焊盘。
2.如权利要求1所述的有机发光显示面板,其中,所述多个阵列测试控制信号包括面板测试信号和线测试信号。
3.如权利要求1所述的有机发光显示面板,其中,阵列测试单元还包括:
解复用器,被构造成将所述每个阵列测试焊盘连接到所述不同的组的数据焊盘,根据所述多个阵列测试控制信号向所述多个数据焊盘选择性发送所述多个阵列测试信号,
其中,所述多个阵列测试焊盘被构造成接触阵列测试设备的探针引脚。
4.如权利要求3所述的有机发光显示面板,其中,解复用器包括多个阵列测试开关,每个阵列测试开关具有与发送所述多个阵列测试控制信号的多条线中的一条线连接的栅极、与所述多个数据焊盘中的一个连接的第一端子、与所述多个阵列测试焊盘中的一个连接的第二端子。
5.如权利要求4所述的有机发光显示面板,其中,所述多个阵列测试开关包括:
多个第一阵列测试开关,具有与供应来自所述多个阵列测试控制信号之中的第一阵列测试控制信号的线共同连接的栅极;
多个第二阵列测试开关,具有与供应来自所述多个阵列测试控制信号之中的第二阵列测试控制信号的线共同连接的栅极;
多个第三阵列测试开关,具有与供应来自所述多个阵列测试控制信号之中的第三阵列测试控制信号的线共同连接的栅极;
多个第四阵列测试开关,具有与供应来自所述多个阵列测试控制信号之中的第四阵列测试控制信号的线共同连接的栅极。
6.如权利要求3所述的有机发光显示面板,其中,解复用器包括多个开关组,所述多个开关组将所述多个数据焊盘之中的顺序的数据焊盘连接到所述多个阵列测试焊盘之中的一个阵列测试焊盘,其中,顺序的数据焊盘的数量与阵列测试控制信号的数量相同,
各开关组包括多个阵列测试开关,各阵列测试开关具有与供应阵列测试控制信号中的一种阵列测试控制信号的线连接的栅极,各开关组中的所述多个阵列测试开关被构造成响应于所述多个阵列测试控制信号顺序地导通。
7.如权利要求2所述的有机发光显示面板,其中,线测试单元包括多个线测试开关,所述多个线测试开关具有与供应线测试控制信号的线共同连接的栅极、分别与多个阵列测试焊盘连接的第一端子、被构造成接收线测试信号的第二端子。
8.如权利要求1所述的有机发光显示面板,其中,在阵列测试单元执行阵列测试时,线测试单元保持截止状态。
9.如权利要求1所述的有机发光显示面板,所述有机发光显示面板还包括被构造成向像素单元的多个像素列选择性施加多个数据信号的数据开关单元,其中,通过所述多个数据焊盘输出所述多个数据信号并且像素列是所述多个像素列中的一个。
10.如权利要求1所述的有机发光显示面板,所述有机发光显示面板还包括数据驱动单元,数据驱动单元借助玻璃上芯片法键合至所述多个数据焊盘并且被构造成向所述多条数据线施加多个数据信号。
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