[发明专利]分光测定装置

权利要求书

1.一种分光测定装置，其特征在于，

具备：

分光元件，能够变更选择的光的波长，使来自对象物的光分光；

摄像部，分别接收由所述分光元件分光为多个波长的光而取得多个分光图像；

位置偏移量检测部，从由所述摄像部取得的所述多个分光图像中选择基准图像，在所述基准图像与所述基准图像以外的至少一个所述分光图像之间，检测接收到来自所述对象物的规定位置的光的像素位置的位置偏移量；

位置对准部，根据由所述位置偏移量检测部检测出的所述位置偏移量，进行所述基准图像以外的所述分光图像的位置对准；

显示部，显示将分光图像合成后的参照图像；以及

指定位置检测部，检测显示于所述显示部的所述参照图像中的由用户的输入操作指定的指定位置，

所述摄像部取得包括所述指定位置的区域中的与多个波长各自对应的分光图像，

所述位置偏移量检测部将参照图像生成用的分光图像以及所述参照图像中的至少任一个图像作为所述基准图像，检测所述基准图像与所述分光图像的所述位置偏移量，

所述位置对准部根据检测出的所述位置偏移量，进行所述分光图像的位置对准。

2.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，

所述位置偏移量检测部具备：位置对准点选择部，根据所述分光图像的各像素的受光强度，选择接收到来自所述对象物的所述规定位置的光的像素位置作为位置对准点；以及位置偏移量测定部，测定所述基准图像中的所述位置对准点与所述基准图像以外的所述分光图像中的所述位置对准点的位置偏移量。

3.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，

所述位置对准点选择部选择在各分光图像中所述受光强度最大的像素作为所述位置对准点。

4.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，

所述位置对准点选择部选择在各分光图像中所述受光强度为规定的第一阈值以上的像素作为所述位置对准点。

5.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，

所述位置对准点选择部选择在各分光图像中受光强度差最大的两个像素中的至少一个像素作为所述位置对准点。

6.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，

所述位置对准点选择部在将沿一个方向连续的像素作为第一像素、第二像素以及第三像素时，算出所述第一像素和所述第二像素的受光强度差与所述第二像素和所述第三像素的受光强度差的差值作为所述第二像素的邻接强度差，提取在各分光图像中沿所述一个方向排列的像素中的、所述邻接强度差为最小的像素，并选择这些像素中的、所述受光强度为最大的像素作为所述位置对准点。

7.根据权利要求2所述的分光测定装置，其特征在于，

所述位置对准点选择部选择多个所述位置对准点，

所述位置对准部以位置对准后的多个对应的所述位置对准点间的距离的总和为最小的方式而进行位置对准。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的分光测定装置，其特征在于，

具备检测所述分光图像内的指定位置的指定位置检测部，

所述位置对准部对包括所述分光图像的所述指定位置的规定区域中所包含的所述位置对准点进行位置对准。

9.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，

所述位置偏移量检测部在规定的波长范围内的所述分光图像间检测所述位置偏移量，

所述位置对准部在所述规定的波长范围内的所述分光图像间进行位置对准。

10.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，

所述位置对准部进行所述位置偏移量超过规定量的所述分光图像的位置对准。

11.根据权利要求1所述的分光测定装置，其特征在于，

具备：

显示控制部，使所述显示部显示由所述摄像部取得的至少3个波长的分光图像合成后的所述参照图像。

12.根据权利要求11所述的分光测定装置，其特征在于，

所述显示控制部使所述显示部显示将3个所述参照图像生成用的分光图像合成后的所述参照图像。