[发明专利]数字集成电路自动测试系统

权利要求书

1.一种数字集成电路自动测试系统，其特征在于，包括被测芯片、测试接口板、集成模块、测试模块、控制模块、显示模块及上位机，其中：

控制模块与上位机连接，用于接收上位机发出的原始测试激励数据，生成并发送按照系统时钟节拍变化的测试激励数据；

测试模块与控制模块连接，用于存储按照系统时钟节拍变化的测试激励数据和被测芯片在激励数据作用下输出的波形信号的预期值；

被测芯片的管脚与测试接口板相连接，其中输入管脚接收按照系统时钟节拍发送的测试激励数据，输出管脚输出被测芯片在激励数据作用下的波形信号；

测试接口板与测试模块连接，用于发送存储于测试模块中的测试激励数据；读取被测芯片在激励数据作用下的波形信号；并将所述波形信号与存储于测试模块中的被测芯片波形信号的预期值进行比较，比较后的波形通过控制模块传回上位机；

集成模块连接测试模块、上位机，用于为上位机和测试模块输出直流电压、记录数据以及对系统参数进行校准；

显示模块与控制模块连接，并借助上位机软件显示最终比较后的波形，从而完成芯片功能和性能的自动测试。

2.如权利要求1所述的数字集成电路自动测试系统，其特征在于，所述集成模块由直流电源及数字万用表组成，且集成模块具有通用总线接口。

3.如权利要求1所述的数字集成电路自动测试系统，其特征在于，控制模块通过周边元件扩展接口总线连接上位机。

4.如权利要求1所述的数字集成电路自动测试系统，其特征在于，所述上位机通过通用总线接口连接集成模块。

5.如权利要求1所述的数字集成电路自动测试系统，其特征在于，所述测试模块包括电压电流源单元、通道驱动器、测试激励存储单元、通道比较器、测试波形存储单元，直流参数测量单元、继电器开关矩阵，其中：

电压电流源单元的输出端与测试接口板的输入端连接，用于为被测芯片提供工作电源；

测试激励存储单元，用于存储被测芯片每个输入管脚对应的测试激励数据及被测芯片输出的波形信号的预期值；

直流参数测量单元，用于对被测芯片管脚的直流特性进行测量，并输出被测芯片管脚的直流特性参数数据；

继电器开关矩阵输入端连接直流参数测量单元输入端和测试接口板输出端，并通过测试接口板连接被测芯片，用于切换被测芯片不同管脚与直流参数测量单元之间的连接关系，实现对被测芯片管脚的直流特性参数的测量；

通道比较器的输入端分别连接测试接口板的输出端、测试激励存储单元的输出端，接收测试接口板发出被测芯片输出的波形信号和存储于测试激励存储单元中的预期值，对所述输出的波形信号与所述预期值进行比较，获得比较后的波形；通道比较器的输出端连接测试波形存储单元的输入端，用于存储比较后的波形；

通道驱动器输入、输出端分别连接测试激励存储单元、测试接口板，用于接收测试激励存储单元输出的原始测试激励数据，生成并向测试接口板发送按照被测芯片电平格式变化的测试激励数据。