[发明专利]图像处理装置、图像处理方法、程序以及记录介质有效
申请号: | 201410074536.8 | 申请日: | 2014-03-03 |
公开(公告)号: | CN104123717B | 公开(公告)日: | 2017-08-04 |
发明(设计)人: | 阮翔;卢湖川;杨川;张立和 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G06K9/32 | 分类号: | G06K9/32;G06K9/38;G06T7/11 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 金景花 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 处理 装置 方法 程序 以及 记录 介质 | ||
1.一种图像处理装置,其特征在于,包括:
相似度计算部,将图像中的像素或者由被连接的多个像素构成的区域作为单位结构,对各个上述单位结构求出与位于图像中的端部区域的单位结构的第1相似度;
前景区域确定部,确定由上述相似度计算部计算出的第1相似度低于规定阈值的单位结构的区域,作为前景区域;以及
显著度输出部,对上述图像的各单位结构,求出与由前景区域确定部确定的前景区域的第2相似度,并输出该第2相似度作为该单位结构的显著度,
其中,上述相似度计算部对各个上述单位结构,求出与位于矩形的上述图像的上端部区域的单位结构的相似度即上端用相似度、与位于上述图像的下端部区域的单位结构的相似度即下端用相似度、与位于上述图像的左端部区域的单位结构的相似度即左端用相似度、与位于上述图像的右端部区域的单位结构的相似度即右端用相似度,并通过将上端用相似度、下端用相似度、左端用相似度以及右端用相似度相乘而求出上述第1相似度。
2.如权利要求1所述的图像处理装置,其特征在于,包括:
分割处理部,将上述图像分割为由亮度值和/或色度相似的互相相邻的像素构成的像素小区域,并将该像素小区域作为上述单位结构。
3.如权利要求1所述的图像处理装置,其特征在于,
上述相似度计算部使用以下的式(1),求出上端用相似度、下端用相似度、左端用相似度以及右端用相似度:
f*=(D-αW)-1y……式(1),
另外,f*由[f1*,……,fi*,……,fn*]T表示,是表示上端用相似度、下端用相似度、左端用相似度以及右端用相似度的矢量,这里,fi*表示第i个单位结构和位于端部区域的单位结构的相似度,另外,n是图像中的单位结构的数目,
W是n行×n列的矩阵,i行j列的元素wij由以下的式(2)表示:
另外,ci表示第i个单位结构的特征量,cj表示第j个单位结构的特征量,σ2表示特征量的相似度的方差,
D是n行×n列的对角矩阵,由D=diag(d11,……,dnn)表示,
另外,dii由以下的式(3)表示:
dii=∑jwij……式(3)
y由[y1,……,yn]T表示,yi在第i个单位结构位于成为比较对象的端部区域时为1,在第i个单位结构不位于成为比较对象的端部区域时为0,
α为规定的常数。
4.如权利要求3所述的图像处理装置,其特征在于,
上述显著度输出部使用将在第i个单位结构位于前景区域时成为1且在第i个单位结构不位于前景区域时成为0的yi作为元素的y,根据上述的式(1)求出第2相似度。
5.一种图像处理方法,其特征在于,包括:
相似度计算步骤,将图像中的像素或者由被连接的多个像素构成的区域作为单位结构,对各个上述单位结构求出与位于图像中的端部区域的单位结构的第1相似度;
前景区域确定步骤,确定上述第1相似度低于规定阈值的单位结构的区域,作为前景区域;以及
显著度输出步骤,对上述图像的各单位结构,求出与上述前景区域的第2相似度,并输出该第2相似度作为该单位结构的显著度,
其中,在上述相似度计算步骤中,对各个上述单位结构,求出与位于矩形的上述图像的上端部区域的单位结构的相似度即上端用相似度、与位于上述图像的下端部区域的单位结构的相似度即下端用相似度、与位于上述图像的左端部区域的单位结构的相似度即左端用相似度、与位于上述图像的右端部区域的单位结构的相似度即右端用相似度,并通过将上端用相似度、下端用相似度、左端用相似度以及右端用相似度相乘而求出上述第1相似度。
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