[发明专利]一种基于继电器的三极管振荡装置在审
申请号: | 201410071924.0 | 申请日: | 2014-02-28 |
公开(公告)号: | CN103809096A | 公开(公告)日: | 2014-05-21 |
发明(设计)人: | 刘宇;胡波;李智军;邹显红;刘俊;杨怀君;李莉;樊增勇 | 申请(专利权)人: | 成都先进功率半导体股份有限公司;乐山无线电股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12 |
代理公司: | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人: | 袁英 |
地址: | 610041 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 继电器 三极管 振荡 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种三极管击穿测试装置,特别是一种基于继电器的三极管振荡装置。
背景技术
现有的三极管击穿测试的测试原理都是在基极断开,发射极和集电极之间加以额定电流,然后测试发射极和集电极之间的击穿电压。按照理想的测试,应该是三极管的基极什么都不接,完全悬空的,但是实际上,在生产过程中因为同一个测试工位需要同时测试其它参数,目前行业中常规的做法都是测试三极管击穿电压时,在测试站内部将基极的连接线断开,如图1所示,因为测试站离三极管的基极有约1米的连接线,如果外界干扰比较大,三极管本身基极又比较敏感,亦或是三极管的基极未完全断开,则会对测试产生振荡现象。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种基于继电器的三极管振荡装置,在击穿测试时,与基极相连的开关K309开路使基极悬空,减少从基极引入的干扰,有效地提高三极管击穿测试的准确性和稳定性。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:一种基于继电器的三极管振荡装置,它包括电流加载单元、击穿测试单元和偏置电路单元,电流加载单元包括电源,击穿测试单元包括电压表V、开关K309以及用于测试时放置三极管的三极管测试座,偏置电路单元包括可变电阻,所述的三极管测试座上设有集电极接线端C、基极接线端B和发射极接线端E,三极管测试座的集电极接线端C与电源的正极连接,三极管测试座的基极接线端B依次通过开关K309、开关K209与电源的负极相连,三极管测试座的发射极接线端E依次通过开关K112、开关K3和可变电阻后接地,三极管测试座的集电极接线端C还依次通过开关K8、开关K7以及电压表后接地,所述的开关K309为继电器开关。
电流加载单元还包括开关K1和开关K4,电源的正极通过开关K1与三极管测试座的集电极接线端C连接,电源的负极通过开关K4与三极管测试座的基极接线端B连接。
击穿测试单元还包括开关K109和开关K111,开关K109设于开关K1与三极管测试座集电极接线端C的连接线之间,开关K111设于开关K4与三极管测试座基极接线端B的连接线之间。
所述的电源为可变电源。
本发明的有益效果是:在三极管测试发射极和集电极之间的击穿电压时,与三极管基极相连的继电器开关K309开路使基极悬空,减少了从基极引入的干扰,有效的提高了三极管击穿测试的准确性和稳定性。
附图说明
图1为原测试电路结构示意图;
图2为本发明的测试电路结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图进一步详细描述本发明的技术方案,但本发明的保护范围不局限于以下所述。
如图2所示,一种基于继电器的三极管振荡装置,一种基于继电器的三极管振荡装置,它包括电流加载单元、击穿测试单元和偏置电路单元,电流加载单元包括电源,击穿测试单元包括电压表V、开关K309以及用于测试时放置三极管的三极管测试座,偏置电路单元包括可变电阻,所述的三极管测试座上设有集电极接线端C、基极接线端B和发射极接线端E,三极管测试座的集电极接线端C与电源的正极连接,三极管测试座的基极接线端B依次通过开关K309、开关K209与电源的负极相连,三极管测试座的发射极接线端E依次通过开关K112、开关K3和可变电阻后接地,三极管测试座的集电极接线端C还依次通过开关K8、开关K7以及电压表后接地,所述的开关K309为继电器开关。
电流加载单元还包括开关K1和开关K4,电源的正极通过开关K1与三极管测试座的集电极接线端C连接,电源的负极通过开关K4与三极管测试座的基极接线端B连接。
击穿测试单元还包括开关K109和开关K111,开关K109设于开关K1与三极管测试座集电极接线端C的连接线之间,开关K111设于开关K4与三极管测试座基极接线端B的连接线之间。
K309继电器安装在测试座上,离器件只有约10厘米,减少了连接线的距离,也就减少了基极受到外界干扰的影响,也就杜绝了振荡现象。
所述的电源为可变电源。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都先进功率半导体股份有限公司;乐山无线电股份有限公司,未经成都先进功率半导体股份有限公司;乐山无线电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410071924.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:晶圆自动测试系统
- 下一篇:一种信号检测方法与装置