[发明专利]一种基于边缘信息和反卷积的SAR图像超分辨率方法有效

专利信息
申请号: 201410070411.8 申请日: 2014-02-28
公开(公告)号: CN103839238B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 侯彪;焦李成;牛志伟;王爽;张向荣;马文萍;马晶晶 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 西安智萃知识产权代理有限公司61221 代理人: 李东京
地址: 710071 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 边缘 信息 卷积 sar 图像 分辨率 方法
【权利要求书】:

1.一种基于边缘信息和反卷积的SAR图像超分辨率方法,其特征在于:包含以下步骤: 

步骤1:输入低分辨SAR图像为Il,初始化超分辨结果高分辨率SAR图像Ih=0,其高度Hh与宽度Wh由Hh=2×Hl-1和Wh=2×Wl-1计算得出,其中Hl和Wl分别为Il的高度和宽度; 

步骤2:利用步骤1中得到的初始高分辨率图像Ih,将Il的像素值通过一定的复制规则逐一隔点复制到Ih中; 

步骤3:利用步骤2中得到的Ih的已填充点的像素值,对Ih中部分未填充位置Ih2i+1,2j+1的边缘方向性使用最大后验概率进行估计;Ih2i+1,2j+1到四个最接近的已填充位置的像素值分别为Ih2i,2j、Ih2i,2j+2、Ih2i+2,2j和Ih2i+2,2j+2,计算Ih2i,2j、Ih2i,2j+2、Ih2i+2,2j和Ih2i+2,2j+2对应的四个方向灰度距离估计R0、R1、R2和R3; 

步骤4:计算Ih中未填充位置Ih2i+1,2j+1四个最接近已填充位置Ih2i,2j、Ih2i,2j+2、Ih2i+2,2j和Ih2i+2,2j+2灰度值的标准差σ; 

步骤5:利用R0、R1、R2、R3和σ计算对应Ih2i,2j、Ih2i,2j+2、Ih2i+2,2j和Ih2i+2,2j+2的权重系数w0、w1、w2和w3,其中k=0,1,2,3; 

步骤6:利用步骤2中得到的Ih和权重系数w0、w1、w2、w3,计算在步骤二中未填充位置像素值Ih2i+1,2j+1=w0Ih2i,2j+w1Ih2i,2j+2+w2Ih2i+2,2j+w3Ih2i+2,2j+2,并填充到对应位置; 

步骤7:将步骤6中得到的Ih,逆时针旋转45°,扩展部分用零值填充,扩展后图像矩阵为I'h;对非扩展部分重复步骤3到步骤6过程; 

步骤8:将图像I'h顺时针旋转45°,保留I'h中的非扩展部分,得到图像Ih; 

步骤9:对图像进行去卷积变换消除因边缘插值引起的模糊;定义与图像Ih同样大小的全零矩阵P,用3×3的高斯点扩散函数填充矩阵P; 

步骤10:对矩阵P做快速二维傅里叶变换得到与Ih同样大小的矩阵Pf,对Ih做快速二维傅里叶变换得到与Ih同样大小的矩阵Fh,然后Fh中元素与Pf中对应位置元素做除法运算,重新赋值到矩阵Fh中,其计算公式为:Fhi,j=Fhi,j/Pfi,j

步骤11:对矩阵Fh做快速二维逆傅里叶变换得到与Ih同样大小的矩阵It,令矩阵Ih=It,得到最终的超分辨结果Ih。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410070411.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top