[发明专利]一种电离层电子浓度确定方法有效

专利信息
申请号: 201410069901.6 申请日: 2014-02-28
公开(公告)号: CN103793617B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 周率;毛田;曹建峰;杨光林;王劲松;张效信;张伟;王镓;李黎;刘荟萃 申请(专利权)人: 北京航天飞行控制中心
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00;G01N9/24
代理公司: 国防专利服务中心11043 代理人: 李清
地址: 100094*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电离层 电子 浓度 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种电离层电子浓度确定方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤一、用双频码相位观测值计算天顶方向电子浓度VTEC1

VTEC1=9.52437(P2-P1)·cosz′+σ1

其中,z′为信号路径与单层交点处信号方向的天顶距,P1为第一频点的码相位观测值、P2为第二频点的码相位观测值,σ1=-9.52437.cosz′B,B表示两个频点的码相位观测值的电离层延迟偏差之差;

步骤二、用双频载波相位观测值计算天顶方向电子浓度VTEC2

VTEC2=9.52437[(λ1φ12φ2)+(λ1N12N2)]·cosz′+σ2

其中,λ1为第一频点的载波波长、λ2为第二频点的载波波长,φ1为第一频点载波相位观测值、φ2为第二频点载波相位观测值,N1为第一频点载波的整周模糊度、N2为第二频点载波的整周模糊度,σ2=9.52437·cosz′·Lg,Lg表示两个频点的载波相位观测值的电离层延迟偏差之差;

步骤三、确定电离层电子浓度TEC

VTEC^=a0+a1VTEC1+a2VTEC2]]>

TEC=VTEC^/cosz]]>

其中,为修正后的天顶方向电离层电子浓度,VTEC1为步骤一计算的天顶方向电子浓度,VTEC2为步骤二计算天顶方向电离层电子浓度,a0、a1、a2为修正后的天顶方向电离层电子浓度二元一次方程的回归系数,根据天顶方向电离层电子浓度的历史观测值和其相对应的历史计算值,利用最小二乘法确定a0、a1与a2

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