[发明专利]存储器管理方法、存储器控制电路单元与存储器存储装置有效

专利信息
申请号: 201410066911.4 申请日: 2014-02-26
公开(公告)号: CN104866429B 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 朱健华 申请(专利权)人: 群联电子股份有限公司
主分类号: G06F12/02 分类号: G06F12/02;G06F3/06;G11C29/42
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 臧建明
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 存储器 管理 方法 控制电路 单元 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种存储器管理方法,其特征在于,用于一可复写式非易失性存储器模块,其中该可复写式非易失性存储器模块具有多个实体抹除单元,该存储器管理方法包括:

记录每一该些实体抹除单元的一抹除次数;

将该些实体抹除单元至少分组为一闲置区与一数据区;

判断该可复写式非易失性存储器模块的一使用次数是否大于一使用次数门坎值;

若该可复写式非易失性存储器模块的该使用次数不大于该使用次数门坎值,根据该闲置区的每一该些实体抹除单元的抹除次数,由小到大排序该闲置区的该些实体抹除单元以形成多个已排序实体抹除单元;

若该可复写式非易失性存储器模块的使用次数大于该使用次数门坎值时,根据该闲置区的该些实体抹除单元的多个最大错误比特数目,由小到大排序该闲置区的该些实体抹除单元以形成该些已排序实体抹除单元;以及

依据该些已排序实体抹除单元从该闲置区中提取排序在最前面的一第一实体抹除单元来写入数据。

2.根据权利要求1所述的存储器管理方法,其特征在于,上述判断该可复写式非易失性存储器模块的该使用次数是否大于该使用次数门坎值的步骤包括:

依据每一该些实体抹除单元的抹除次数,计算该些实体抹除单元的一平均抹除次数;

判断该些实体抹除单元的该平均抹除次数是否大于一抹除次数门坎值;

若该些实体抹除单元的该平均抹除次数大于该抹除次数门坎值时,则识别该可复写式非易失性存储器模块的该使用次数大于该使用次数门坎值;以及

若该些实体抹除单元的该平均抹除次数不大于该抹除次数门坎值时,则识别该可复写式非易失性存储器模块的该使用次数不大于该使用次数门坎值。

3.根据权利要求1所述的存储器管理方法,其特征在于,上述判断该可复写式非易失性存储器模块的该使用次数是否大于该使用次数门坎值的步骤包括:

判断是否该些实体抹除单元中至少一个实体抹除单元的抹除次数大于一抹除次数门坎值;

若该些实体抹除单元中至少一个实体抹除单元的抹除次数大于该抹除次数门坎值时,则识别该可复写式非易失性存储器模块的该使用次数大于该使用次数门坎值;以及

若每一该些实体抹除单元的该抹除次数皆不大于该抹除次数门坎值时,则识别该可复写式非易失性存储器模块的该使用次数不大于该使用次数门坎值。

4.根据权利要求1所述的存储器管理方法,其特征在于,每一该些实体抹除单元包括多个实体程序化单元,且每一该些实体程序化单元可存储至少一错误检查与校正框,其中该存储器管理方法还包括:

持续记录发生在该些实体抹除单元中的该第一实体抹除单元的每一错误检查与校正框的错误比特的数目;以及

以该些数目中的一最大数目作为该第一实体抹除单元的一最大错误比特数目。

5.根据权利要求1所述的存储器管理方法,其特征在于,上述根据该闲置区的每一该些实体抹除单元的抹除次数,由小到大排序该闲置区的该些实体抹除单元以形成多个已排序实体抹除单元的步骤还包括:

将该闲置区的每一该些实体抹除单元的抹除次数乘上一第三预先定义值得到一抹除次数加权值;以及

根据该抹除次数加权值由小到大排序该闲置区的该些实体抹除单元以形成多个已排序实体抹除单元。

6.根据权利要求1所述的存储器管理方法,其特征在于,上述根据该闲置区的每一该些实体抹除单元的最大错误比特数目,由小到大排序该闲置区的该些实体抹除单元以形成该些已排序实体抹除单元的步骤包括:

根据该闲置区的每一该些实体抹除单元的该抹除次数与该最大错误比特数目,计算出对应每一该些实体抹除单元的一加权值,并根据该加权值由小到大排序该闲置区的该些实体抹除单元以形成该些已排序实体抹除单元。

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