[发明专利]一种去除X射线影像滤线栅条纹的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201410062484.2 申请日: 2014-02-24
公开(公告)号: CN103886552B 公开(公告)日: 2017-01-11
发明(设计)人: 孙凯;李学军;杜静;陈娴 申请(专利权)人: 深圳市安健科技股份有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T5/50
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)44312 代理人: 陈健
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 去除 射线 影像 滤线栅 条纹 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种去除X射线影像滤线栅条纹的方法,其特征在于,包括如下步骤:

步骤S1:生成窗函数图像;

步骤S2:将所述窗函数图像与所述原图像相乘,生成加窗图像;

步骤S3:获取所述加窗图像的频谱;

步骤S4:获取所述频谱图像的幅值图像,并对所述幅值图像进行二值化处理,获得二值图像;

步骤S5:检测所述二值图像的最大连通区域,并将该最大连通区域中各像素值置零;

步骤S6:将所述幅值图像与经所述步骤S5处理后的二值图像相乘,并检测相乘后的幅值图像的峰值,该峰值所在坐标位置即为滤线栅条纹的频率位置;

步骤S7:根据所述滤线栅条纹的频率位置去除所述条纹。

2.如权利要求1所述的去除X射线影像滤线栅条纹的方法,其特征在于,所述步骤S1包括如下步骤:

根据原图像尺寸及预设的放大比例生成汉宁窗函数图像;

以所述汉宁窗函数图像的中心为中心,截取与所述原图像同样大小的比例,获得所述窗函数图像。

3.如权利要求1所述的去除X射线影像滤线栅条纹的方法,其特征在于,所述步骤S5包括如下步骤:

以所述二值图像的中心为中心,截取设定数量的行及列,并将其余部分所有像素值置零;

检测截取后的二值图像的最大连通区域;

检测该最大连通区域的上、下、左、右四个边界,分别为t、b、l、r;

获取所述最大连通区域上、下边界的水平投影Sum_t、Sum_b及左、右边界的垂直投影Sum_l、Sum_r;

设定所述最大连通区域的上、下、左、右四个新边界分别为:T=t-2*Sum_t、B=b+2*Sum_b、L=l-2*Sum_l、R=r+2*Sum_r;

将所述四个新边界范围内的连通区域中各像素值置零。

4.一种去除X射线影像滤线栅条纹的系统,其特征在于,包括:

窗函数处理模块,用于生成窗函数图像;

图像加窗模块,用于将所述窗函数图像与所述原图像相乘,生成加窗图像;

频谱图像提取模块,用于获取所述加窗图像的频谱;

图像二值化处理模块,用于获取所述频谱图像的幅值图像,并对所述幅值图像进行二值化处理,获得二值图像;

连通区域处理模块,用于检测所述二值图像的最大连通区域,并将该最大连通区域中各像素值置零;

频率位置检测模块,用于将所述幅值图像与经所述步骤S5处理后的二值图像相乘,并检测相乘后的幅值图像的峰值,该峰值所在坐标位置即为滤线栅条纹的频率位置;

去条纹模块,用于根据所述滤线栅条纹的频率位置去除所述条纹。

5.如权利要求4所述的去除X射线影像滤线栅条纹的系统,其特征在于,所述窗函数处理模块包括:

窗函数图像尺寸计算子模块,用于根据原图像尺寸及预设的放大比例计算窗函数图像的尺寸;

汉宁窗函数图像生成子模块,用于根据所述窗函数图像尺寸生成汉宁窗函数图像;

第一图像截取子模块,用于以所述汉宁窗函数图像的中心为中心,截取与所述原图像同样大小的比例,获得所述窗函数图像。

6.如权利要求4所述的去除X射线影像滤线栅条纹的系统,其特征在于,所述连通区域处理模块包括:

第二图像截取子模块,用于以所述二值图像的中心为中心,截取设定数量的行及列,并将其余部分所有像素值置零;

最大连通区域检测子模块,用于检测截取后的二值图像的最大连通区域;

边界检测子模块,用于检测该最大连通区域的上、下、左、右四个边界,分别为t、b、l、r;

图像投影计算子模块,用于获取所述最大连通区域上、下边界的水平投影Sum_t、Sum_b及左、右边界的垂直投影Sum_l、Sum_r;

新边界设定子模块,用于设定所述最大连通区域的上、下、左、右四个新边界分别为:T=t-2*Sum_t、B=b+2*Sum_b、L=l-2*Sum_l、R=r+2*Sum_r;

连通区域像素处理子模块,将所述四个新边界范围内的连通区域中各像素值置零。

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