[发明专利]使用红外热检测的工业过程诊断

权利要求书

1.一种用于识别工业过程中的诊断状况的诊断现场装置，包括：

红外传感器阵列，包括指向所述工业过程中的不同位置并被布置以感测直接来自工业过程中的所述位置的红外发射的多个红外传感器；

处理电路，被配置以处理来自红外传感器阵列的所述多个红外传感器的输出并基于来自所述多个红外传感器的输出产生所述工业过程的红外图像；和

诊断电路，被配置以比较来自所述红外图像的至少两个子区的经处理的输出并基于该比较提供指示工业过程中的诊断状态的诊断输出。

2.根据权利要求1所述的诊断现场装置，其中，红外传感器阵列包括对红外辐射敏感的多个晶体管。

3.根据权利要求1所述的诊断现场装置，其中，红外图像包括热像。

4.根据权利要求1所述的诊断现场装置，包括过程变量接口装置。

5.根据权利要求1所述的诊断现场装置，其中，处理电路包括比较器，该比较器被配置以将红外图像的第一子区的输出与红外图像的第二子区的输出作比较。

6.根据权利要求3所述的诊断现场装置，其中，诊断电路基于热像的第一子区和热像的第二子区之间的温差提供诊断输出。

7.根据权利要求6所述的诊断现场装置，其中，诊断电路识别所述温差中的最大标准偏差并响应地识别诊断事件。

8.根据权利要求1所述的诊断现场装置，其中，诊断输出包括漏气的指示。

9.根据权利要求4所述的诊断现场装置，其中，诊断输出进一步地是感测到的过程变量的函数。

10.根据权利要求1所述的诊断现场装置，其中，诊断输出包括与由红外传感器阵列感测到的热像相关的信息，该信息被传送至另一位置。

11.根据权利要求10所述的诊断现场装置，其中，所述另一位置包括与工业过程中的多个位置相关的存储图像。

12.根据权利要求1所述的诊断现场装置，包括设置在所述多个红外传感器和工业过程位置之间的透镜。

13.一种用现场装置执行诊断并响应地识别工业过程中的诊断状况的方法，包括下述步骤：

使用包括指向所述工业过程中的不同位置的多个红外传感器的红外传感器阵列感测直接来自所述工业过程中的所述位置的红外发射，并基于来自所述多个红外传感器的输出产生所述工业过程的红外图像；

将来自所述红外图像的第一子区的输出与来自所述红外图像的第二子区的输出作比较；

基于所述比较的步骤响应地提供指示工业过程中的诊断状况的诊断输出。

14.根据权利要求13所述的方法，其中，所述多个红外传感器包括对红外辐射敏感的多个晶体管。

15.根据权利要求13所述的方法，其中，红外传感器阵列被布置成检测热像。

16.根据权利要求15所述的方法，包括计算热像的第一子区和热像的第二子区之间的温差的步骤。

17.根据权利要求16所述的方法，包括识别所述温差中的最大标准偏差并响应地识别诊断事件的步骤。

18.根据权利要求13所述的方法，其中，诊断输出进一步地是感测到的过程变量的函数。

19.根据权利要求13所述的方法，包括将与由红外传感器阵列感测到的热像相关的信息传送至控制室的步骤。

20.一种用于识别工业过程中的诊断状况的诊断现场装置，包括：

多个红外传感器，指向所述工业过程中的不同位置，被布置以检测直接来自所述工业过程中的所述位置的红外辐射，由检测到的红外辐射形成所述工业过程的红外图像，并提供分别来自红外图像的第一区域和第二区域的第一红外传感器输出和第二红外传感器输出；和

诊断电路，被配置以比较所述第一红外传感器输出和第二红外传感器输出并响应地提供诊断输出，其中该诊断输出指示在工业过程中出现了热诊断状况。

21.根据权利要求20所述的诊断现场装置，其中，所述多个红外传感器包括对红外辐射敏感的至少两个单独的传感器。

22.根据权利要求20所述的诊断现场装置，其中，所述多个红外传感器包括被布置成检测热像的红外传感器阵列。