[发明专利]光写入装置以及图像形成装置

说明书

技术领域

本发明涉及具备用于检测来自多个发光点的发光光量的光检测器的光写入装置、以及具备光写入装置的图像形成装置。

背景技术

关于图像形成装置，近年来小型化的要求越发加强。为了应对这一要求，关于光写入装置（以下，称为PH（Print Head，打印头）），从以往的光扫描型，正在向线光学型转变。这里，光扫描型是将来自发光源（例如，激光二极管）的光束经由多角镜（polygon mirror）等的扫描光学系统而扫描至感光体鼓的周面的种类的光写入装置。相对于此，线光学型是将来自发光点阵列的光不经由扫描光学系统而直接扫描至感光体鼓的周面的种类的光写入装置，其中发光点阵列线状排列了多个微小的发光点。

作为上述线光学型的光写入装置，从以往开始开发了具备将多个LED（发光二极管）线状排列的发光点阵列的光写入装置（以下，称为LPH）。关于该LPH，多数是发光点阵列和其发光控制用的驱动电路被安装在不同基板上。因此，关于LPH，存在制造成本等变高的倾向。

根据这样的背景，近年来，作为能够实现低成本化的线光学型的光写入装置，提出了具备将多个有机LED（以下，称为OLED（有机发光二极管））线状排列的发光点阵列的光写入装置（以下，称为OLED-PH）。根据该OLED-PH，由于能够将OLED和薄膜晶体管（TFT）形成在同一基板上，因此可实现低成本的光写入装置。

但是，OLED具有下述（1）～（3）的光量劣化特性。

（1）随着累计发光时间增加，光量降低（光量劣化）。

（2）光量劣化的进展速度根据亮度而不同。

（3）光量劣化的程度根据温度而变动。

通过上述光量劣化特性，在OLED-PH中，根据应写入的图像，每个OLED的累计发光时间将会不同。因此，光量劣化的程度也将按照每个像素而不同。为了应对这一情况，OLED-PH需要执行如专利文献1的记载那样的每个像素的光量调整。在该专利文献1中，光量检测电路包括发光点（OLED）、形成了该发光点的基板、发光点中的发光点前方的位置且在基板上形成的光检测器、以及对该光检测器的输出进行积分的积分电路。通过该结构，实现了还应对低灵敏度光检测器的光量检测。

[专利文献1]（日本）特开2007-276355号公报

另外，不限于上述OLED-PH，在采用单一光检测器来检测多个发光点的发光光量的光写入装置中，每个发光点对光检测器的入射光量不同。该情况下，能够对每个发光点检测的光检测器的动态范围不同。例如，入射光量越小，动态范围就越小，因此存在以下问题，即发光光量越小的发光点，光检测器的检测精度越低。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种检测精度更高的光写入装置、以及具备了光写入装置的图像形成装置。

为了达成上述目的，本发明的第一方面为，一种光写入装置，包括：多个发光点；多个驱动电路，对所述多个发光点分别提供驱动电流；光检测器，输出表示来自各个所述发光点的入射光量的信号；增益切换电路，若按照所述发光点的每一个被提供来自所述光检测器的输出信号，则输出以面向对应的发光点所设定的增益进行放大后的光检测信号；以及控制部件，控制所述驱动电路，使得来自所述增益切换电路的光检测信号成为规定的基准值。面向各个所述发光点的增益是基于对应的发光点和光检测器的距离而预先设定的。

本发明的第二方面为，一种光写入装置，包括：多个发光点；透镜，使各个所述发光点的出射光透过并聚集到对象物；多个驱动电路，对所述多个发光点分别提供驱动电流；光检测器，输出表示来自各个所述发光点的入射光量的信号；增益切换电路，若按照所述发光点的每一个被提供来自所述光检测器的输出信号，则输出以面向对应的发光点所设定的增益进行放大后的光检测信号；以及控制部件，控制所述驱动电路，使得来自所述增益切换电路的光检测信号成为规定的基准值。面向各个所述发光点的增益是基于对应的发光点的出射光透过透镜的透射率而预先设定的。