[发明专利]检测仪器中电擦除可编程只读存储器的使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测仪器中电擦除可编程只读存储器的使用方法，该方法可以使所述电擦除可编程只读存储器的使用寿命与检测仪器的使用寿命相匹配。

背景技术

检测仪器一般都使用电擦除可编程只读存储器（以下简称EEPROM）存储检测数据。

目前欧美各大集成电路厂商生产的EEPROM芯片的使用寿命已达到擦写100,000次，最高的已达到1,000,000次。

以美国ATMEL公司的2FC型（代码）EEPROM芯片为例，该存储器有65536个字节存储空间，地址0X0000-0XFFFF，若检测仪器每天运行5小时，间隔10秒采集一组检测数据，每组检测数据占用16字节，则每天占用28800字节存储空间，大约两天多刷新一次。2FC型EEPROM芯片以200,000次使用寿命计算，几百年才会失效。

在EEPROM使用中，每一个字节的检测数据都要遵照地址指针分配的存储空间存放。地址指针初始状态为零。每存储一个字节后，地址指针加一，溢出后清零。设置两个字节做地址指针，可以覆盖2FC型EEPROM芯片的所有存储空间。

如上面分析，2FC型EEPROM芯片每天占用28800字节空间存储检测数据，则地址指针相应每天擦写28800次。那么，200,000次使用寿命/每天擦写28800次≈7天，可见地址指针占用的EEPROM存储空间几天就会达到极限擦写次数而失效，显然是不可行的。

在检测仪器的现有技术中，为解决址指针占用的EEPROM存储空间使用寿命较短的技术问题有如下几种解决方法：

1、用检测仪器的RAM与EEPROM组合工作：当仪器开机工作时，将EEPROM内的地址指针复制到RAM相应的两个字节仍作地址指针，使用RAM的地址指针分配EEPROM的存储空间存储采集的数据。当天工作结束在关机断电前，将地址指针由RAM导入EEPROM，仪器再行断电。这种方式的优点是，不需考虑EEPROM的寿命，这种使用方式EEPROM寿命会远大于仪器的寿命。这种方式的缺点是，（1）当天工作结束在关机断电前，必须人为操作如通信方式或按键方式启动CPU相应程序，才可以将RAM内的当前地址指针复制到EEPROM中。否则，EEPROM内的当前地址仍然是上次工作结束时的状态。当天采集的数据将会被以后的数据覆盖而丢失。（2）如在工作过程中意外断电，断电前RAM存储的数据将丢失。

2、不使用EEPROM，而使用带电池的RAM（NVRAM）：NVRAM是将电池与RAM封装在一起的器件。保持有RAM的高速读写，具有存储次数寿命无限和断电后数据不丢失的优点，采集数据的存储和地址指针均置于NVRAM内，可以实现高效工作。缺点是，体积庞大，不适用于便携式的检测仪器。

3、若干个字节数据为一页并存储在RAM内，页写满后导入EEPROM。当检测仪器间隔10秒采集一组数据、每组数据占用16字节，如果设定512字节为一页，即32组数据为一页（512/16=32组），地址指针置于EEPROM内，数据采集后存入RAM，每完成采集32组数据，整体将数据导入EEPROM，EEPROM内的地址指针加一。该方式的优点是每存入一页数据，地址指针加一，那么，地址指针所占用的存储空间（7天*512=3584天）几年才会失效。该方式的缺点是，在尚未存满整页时，如遇意外断电，该页数据将会丢失。间隔10秒采集一次数据，乘以32组等于320秒。即320秒时间段的数据有可能丢失。对于允许短时间段的数据丢失的环境，这种方式是可取的，但对于要求数据完整保存的环境，这种方式显然存在缺陷。

4、某些品牌的CPU内部集成有小容量的（几千个字节）EEPROM和RAM，数据采集、地址处理等工作均在CPU内完成。由内置的EEPROM以整页的方式导入外部EEPROM，只要程序设计合理，即可解决寿命及数据丢失等问题。该方式的缺欠在于，由于内部集成的EEPROM速度较慢，大量的数据采集存储占用的时间，将影响CPU其它工作的速度。这种方式对于CPU工作任务繁忙的环境不宜采用。

发明内容

本发明是为了解决现有检测仪器中电擦除可编程只读存储器地址指针所占用的存储空间使用寿命较短的技术问题，而公开一种检测仪器中电擦除可编程只读存储器的使用方法。