[发明专利]电子器件检测系统和方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种电子器件检测系统和方法。

背景技术

随着技术的发展，电子器件是否能正常响应控制指令是电子器件是否异常的一种判断方法。特别是当电子器件是中控主机时，由于中控主机作为自动化只能控制环境设备（灯光、窗帘电机等设备）的中间部件，作用日益突出。因此对中控主机能否正常响应控制指令显得越来越有必要。这里的中控主机指的是：可用通过网络控制的继电口类型的中控主机，可通过网络控制该中控主机进而控制继电口类型的外围环境设备，作为控制继电口类型外围环境设备的中间部件，主要可以运用于智能控制室的继电控制类型环境设备的一体化控制以及继电控制类型的智能家居一体化控制领域。但是针对中控主机进行测试技术却很少。且中控主机在长时间频繁接收控制指令下，想要判断其是否正常地响应控制指令并产生可视化的测试结果，是一个测试的难点。

传统技术中，如图1所示，包括控制服务器110、待测电子器件120、智能灯光130。该技术主要是借助待测电子器件外接的环境设备智能灯光130的状态来确定其是否正常地响应指令，即查看待测电子器件外接的智能灯光130在待测电子器件接收到控制指令后是否正常的点亮或者关闭来判断电子器件是否响应指令。比如，假设要对待测电子器件第一个继电端口进行压力与性能测试。那么，传统技术是每隔一段时间发送一次打开第一个继电端口的指令，再每隔一段时间发送一次关闭的指令，然后通过工作人员查看第一个继电端口外接的智能灯光在对应时刻的点亮状态来确定中待测电子器件是否正常响应。

但是这样测试技术有以下问题：

第一，测试需要依赖环境设备，且环境设备经过无数次上电和掉电，容易因上电和断电时产生的冲击损害掉，测试灵活性不高，通过观察环境设备不能清楚准确的确定每一次指令是否真的准确响应，测试的精度和深度不足；

第二，测试需要依赖工作人员实时观察和发送指令，人员投入大，耗费成本高；

第三，传统的测试方法不能将结果准确记录下来，不能形成可视化的测试结果，测试结果可读性差。

发明内容

基于此，有必要针对测试精确度低、成本高的问题，提供一种电子器件检测系统和方法。

一种电子器件检测系统，包括：方波时序发生器、检波电路、模拟发码器、检测装置；

所述方波时序发生器的输出端口分别与所述检波电路的输入端口和所述检测装置的第一采集端口连接，所述检波电路的输出端口、所述模拟发码器、待测电子器件、所述检测装置的第二采集端口依次连接；

所述方波时序发生器用于产生两个相同的触发方波，将其中一个触发方波发送至检波电路，另一个触发方波发送至检测装置；

所述检波电路接收触发方波，当检测到触发方波的上升沿时输出高电平，检测到触发方波的下降沿时输出低电平；

所述模拟发码器将接收的高电平和低电平转换为两种不同的控制指令，并发送至待测电子器件；

所述检测装置根据接收方波时序发生器发送的触发方波和待测电子器件发送的响应波形判断待测电子器件是否发生异常。

一种电子器件检测方法，基于上述电子器件检测系统实现，包括步骤：

利用方波时序发生器产生两个相同的触发方波；

利用检波电路接收其中一个触发方波，当检测到触发方波的上升沿时输出高电平，检测到触发方波的下降沿时输出低电平；

利用模拟发码器将高电平和低电平转换为两种不同的控制指令，并发送至待测电子器件；

利用检测装置获取待测电子器件输出的响应波形和方波时序发生器输出的另一个触发方波，根据响应波形和另一个触发方波判断待测电子器件是否发生异常。

上述电子器件检测系统和方法，通过设置方波时序发生器、检波电路、模拟发码器和检测装置，利用方波时序发生器产生两个相同的触发方波；利用检波电路接收其中一个触发方波，当检测到触发方波的上升沿时输出高电平，检测到触发方波的下降沿时输出低电平；利用模拟发码器将高电平和低电平转换为两种不同的控制指令，并发送至待测电子器件；最后利用检测装置根据响应波形和另一个触发方波判断待测电子器件是否发生异常，从而实现了对待测电子器件是否能正常响应控制指令的检测，无需依赖环境设备，检测精度高，且无需工作人员实时发送检测指令和观察环境设备来判断检测结果，降低了成本。

附图说明

图1为传统技术中待测电子器件检测系统结构示意图；

图2为本发明电子器件检测系统实施例一的结构示意图；