[发明专利]一种鉴别CVD合成钻石的检测方法及其检测仪器无效

专利信息
申请号: 201410051072.9 申请日: 2014-02-14
公开(公告)号: CN103776782A 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 苑執中 申请(专利权)人: 苑執中
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫
地址: 中国台湾台北市*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 一种 鉴别 cvd 合成 钻石 检测 方法 及其 仪器
【说明书】:

本申请要求于2013年12月11日提交中国专利局、申请号为201310669193.5、发明名称为“一种鉴别CVD合成钻石的检测方法及其检测仪器”的中国专利申请的优先权,其全部内容通过引用结合在本申请中。 

技术领域

本发明涉及一种钻石的检测方法,尤其涉及一种鉴别CVD合成钻石的检测方法及其检测仪器。

背景技术

CVD法合成钻石是今年出现在国际珠宝市场,其技术已达到与天然最高等级钻石一样的程度,两者难以区分,因此引起钻石业者和消费者的恐慌、不安,甚至有可能带来严重经济损失。然而,现有的检测方法一般包括:

(1)紫外荧光法:天然钻石可能有荧光,也可能没有荧光;而CVD合成钻石都有特殊荧光。但是该特殊荧光在长波紫外荧光灯下不出现,在短波紫外荧光灯下才出现较难观察到的弱或极弱的荧光。该方法如应用在劳动强度较大的工作环境下,很容易导致检测员鉴别错误;

(2)钻石观察仪DiamondView:检测后,可见蓝绿色荧光以及蓝色磷光,具有CVD合成钻石的特征生长纹理。但是,该方法检测效率低,无法进行大量检测;

(3)光自发光光谱仪检测:以拉曼激光照射钻石,于受激辐射光谱中,可见737nm之吸收峰,但是该吸收峰仅见于部分CVD合成钻石中,其检测结果不能得到保证。

为了实现市场公平公正的交易跌序,本发明人利用紫外可见近红外光谱仪全面测试各种天然、人造、优化处理钻石,首次发现波长约为230nm的锐锋出现在所有无色及近无色的化学气相沉积CVD法生长的合成钻石中,这是由于CVD钻石生长的环境存在大量的氢,而形成的一种C-H键,再经热处理而产生230nm之吸收峰。根据以上发现,本发明提出一种能够快速、大量从天然钻石中筛出CVD合成钻石的检测方法。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题在于,提供一种鉴别CVD合成钻石的检测方法及其检测仪器。可以快速、大量从天然钻石中筛检出CVD合成钻石,并且其检测仪器的检测效率高,准确性高。

为了解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种鉴别CVD合成钻石的检测方法,包括以下步骤:(1)将被测钻石擦拭干净并置于固定位置;(2)对被测钻石照射紫外、可见、近红外波段的光谱;(3)收集被测钻石反射后的光谱;(4)将光谱分光形成不同波长的光谱;(5)根据测量不同波长的光谱值,计算出不同波长的反射率;(6)检测反射率是否出现锐锋值,将未出现锐锋值的被测钻石筛选出来,保留出现锐锋值的被测钻石;(7)检测步骤6中不同波长出现锐锋值的被测钻石,在波长为227nm—233nm之间出现锐锋值的,即鉴别为CVD合成钻石。

进一步的,所述被测钻石为无色或近无色。

相应地,本发明实施例还提供了一种用于鉴别CVD合成钻石的检测仪器,其包括:用于照射被测钻石的发光系统;用于收集被测钻石反射光谱的受光系统;用于将所述放射光谱进行分光形成不同波长光谱的分光系统;用于将所述不同波长光谱的光信号转换成数字信号的信号系统;用于将所述数字信号处理为反射率以及检测反射率是否出现锐锋值的处理系统;所述发光系统的受激辐射光谱是波长为200nm—450nm的辐射光谱。

进一步的,所述检测仪器还包括显示系统,当所述处理系统检测光谱波长在227nm—233nm之间的反射率出现吸收锐锋时,所述显示系统自动显示为CVD合成钻石的相关标示。

进一步的,所述被测钻石为无色或近无色。

作为上述技术方案的进一步改进,所述受光系统包括探镜和光纤,所述探镜用于增大光谱的收集面积,所述光纤用于传送光信号,所述受光系统可配备不同型号大小的所述光纤。

实施本发明实施例,具有如下有益效果:

实施本发明的一种鉴别CVD合成钻石的检测方法,与现有技术相比,它是利用检测仪器对所有无色或近无色的钻石进行检测,获得不同波长光谱的反射率,从而检测反射率是否存在锐锋值,如果在波长为227nm—233nm之间时出现吸收锐锋,即可鉴别该钻石为CVD合成钻石。此测试仅需1秒,即可得到结论,因此可以快速、大量从天然钻石中筛检出CVD合成钻石,能有效地鉴别出商品的真实性,避免了复杂的鉴定过程,提高市场交易效率,实现市场公平公正的交易跌序。

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