[发明专利]检测装置及其检测窗口清洁方法

说明书

本发明有关于一种检测装置及检测窗口清洁方法，尤指一种对电子组件进行检测的检测装置上，其设有检测窗口而须进行脏污处理的检测装置及其检测窗口清洁方法。

【背景技术】

在高科技产业的许多制程中，由于产量大、精度高，对于电子组件的物理特性通常需进行一定程度的检测及分类，有些电子组件并在检测及分类后进行包装于带状包装带的程序；上述电子组件物理特性的检测及分类通常藉由一通称测试机或分选机或包装机的设备来达成，主要藉由振动机输送经排列的电子组件(例如芯片型被动组件)进入一执行间歇性旋转流路的测盘中，测盘外周缘环列布设多个等距凹设的载槽，使被输入的电子组件逐一进入该等载槽中被间歇性运送，而逐次经过极性检测、电性检测、光学检测等多个分别各依不同电子组件需求所设定的检测作业，然后再将属于合格品的符合设定条件的电子组件续输送至包装带进行包装，而不符合设定条件的电子组件则被导出该间歇性旋转流路以进行不合格品的分类。

在各检测站所进行的各项检测中，由于光学检测的检测站必须自机台的测盘下方投射光源，使光源透经一位于测盘周缘载槽旁侧上方对应的透明玻璃形成的检测窗口，而被对应于检测窗口上方的光学检测装置感应及接收，以对载槽中的电子元计进行光学检测作业，因此，在与测盘约略同高的围设于测盘外周缘的一限位件近载槽处，对应光源投射的部位开有一近圆形可透光的检测区间，该检测区间开有一缺口供被间歇输送而恰与检测区间对应的电子组件，可在一负压吸引下被由该缺口导入检测区间中受检测，及在检测后受正压吹送经该缺口导出检测区间而进入测盘周缘的载槽续行被间歇输送；而该透明玻璃形成的检测窗口则设在迭覆于该限位件及测盘周缘载槽上方的覆载组件上，且检测窗口对应于该限位件的检测区间上方。

【发明内容】

已知的光学检测作业由于电子组件被经常性频繁地导入及导出该限位件的检测区间，故常频繁地碰触到检测区间上方对应的透明玻璃形成的检测窗口，使该检测窗口常沾附有该受检的电子组件表面粉尘或其它污尘，在累积一定程度后将使该检测窗口的玻璃表面被遮覆，影响上方光学检测的检测结果；若欲进行该检测窗口的玻璃表面清洁，则由于沾污面位于下方的内侧，除非将迭覆于该限位件及测盘周缘载槽上方的覆载组件，以及覆载组件上载设的其它检测机构及仪器全部移除，否则难以执行覆载组件上检测窗口内侧面清洁的工作，令业者十分苦恼!

因此，本发明的目的，在于提供一种在清洁检测窗口时，可无须拆除覆载组件及其上检测设备的检测窗口清洁方法。

本发明另一目的，在于提供一种在清洁检测窗口时，可无须拆除覆载组件及其上检测设备的检测装置。

依据本发明目的检测窗口清洁方法，包括:一使检测窗口与限位件检测区间呈相对滑动位移进行脏污刮除的步骤；

一使检测窗口回复原位的步骤；藉由以上步骤的执行，完成检测窗口的清洁工作。

依据本发明另一目的检测装置，包括:一测盘，其周缘设有可供载置组件的载槽；一限位件，其上设有一镂空状限位区间，并设于测盘周缘载槽外侧，限位件上设有一检测区间；一覆载组件，其上设有一镂空状操作区间，并设于测盘周缘载槽及限位件上方，其上设有一具透明检测窗口的窗口机构，其上的检测窗口与限位件的检测区间对应，并可被操作与限位件的检测区间作相对滑动位移。

本发明实施例所提供的方法及装置，藉由提供检测窗口可以与限位件的检测区间作相对滑动位移，促成检测窗口可以将其上透明玻璃下方的电子组件粉尘污垢的脏污刮除脱落，使检测窗口在清洁时无须再拆卸迭覆于该限位件及测盘周缘载槽上方的覆载组件，以及覆载组件上载设的其它检测装置，使检测窗口内侧面的清洁工作更容易，相对使光学检测的质量可以更理想，使检测合格率可以更提高。

【附图说明】

图1是本发明实施例设于机台台面的机构立体示意图。

图2是本发明实施例中的驱动机构背面构造立体示意图。

图3是本发明实施例中的窗口机构设于机台台面的立体分解示意图。

图4是本发明实施例中窗口机构的立体示意图(一)。

图5是本发明实施例中窗口机构的立体示意图(二)。

图6是本发明实施例中窗口机构的窗口框座关闭检测区间的剖面示意图。

图7是本发明实施例中窗口机构的窗口框座操作自检测区间开启的剖面示意图。

图8是本发明另一实施例设于机台台面的机构立体示意图。

图9是本发明另一实施例中驱动机构的背面立体示意图。

【符号说明】

1        机台台面             2        测盘