[发明专利]光学断层成像设备及其控制方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学断层成像设备以及该光学断层成像设备的控制方法。例如，本发明涉及一种用于眼科诊疗的光学断层成像设备以及用于控制该光学断层成像设备的方法。

背景技术

近年来，用于通过使用光形成要被测量的物体的表面和/或内部的图像的光学图像测量技术正在获得关注。不同于常规的X射线计算断层成像（CT），光学图像测量技术对于人体是非侵略的。期望光学图像测量技术的应用尤其在医学领域中被开发。特别地在眼科领域中已作出显著进步。

用于光学图像测量的典型技术之中存在被称为光学相干断层成像（OCT）的方法。该方法使用干涉仪，该干涉仪使得能够进行高分辨率、高灵敏性测量。使用宽带的弱光作为照明光提供了对于被检者高度安全的优点。

使用光学干涉的基于OCT的光学断层成像设备（下文，被称为OCT设备）可获得具有高分辨率的样本的断层图像。特别地，OCT设备涉及用于形成被检者眼睛的前眼部（anterior eye）的图像的前眼部光学断层成像设备。

OCT设备可用作为测量光的低相干光照射样本，并且通过使用干涉系统或者干涉光学系统以高灵敏度测量来自样本的反向散射光。OCT设备可用测量光扫描样本以获得高分辨率断层图像。因此，被检者眼睛的前眼部的角膜区域的断层图像可被获得并用于眼科诊断。

日本专利申请特开No.2011-147612讨论了一种光学断层成像设备，其可捕获前眼部的断层图像和眼底的断层图像两者。根据成像模式是前眼部成像模式还是眼底成像模式，光学断层成像设备将其干涉光学系统中包含的参考镜移动到与该成像模式对应的位置。

发明内容

根据本发明的一个方面，提供了一种光学断层成像设备，该光学断层成像设备被配置用于基于由来自被测量光照射的物体的返回光和对应于该测量光的参考光组合成的光获得物体的断层图像，该光学断层成像设备包括测量光光路长度改变单元，被配置用于改变测量光的光路长度；指令单元，被配置用于发出关于断层图像的成像范围的大小的指令；以及控制单元，被配置用于在缩窄成像范围的指令被发出的情况下，控制测量光光路长度改变单元以缩小测量光的光路长度，并且使得与加宽成像范围的指令被发出的情况相比测量光的光路长度的改变速度较低。

参照附图阅读示例性实施例的以下描述，本发明的其它特征将变得清楚。

附图说明

图1是示出根据第一示例性实施例的整个光学断层成像设备的示图。

图2是示出根据第一示例性实施例的测量光学系统的配置的示图。

图3是示出根据第一示例性实施例的被检者眼睛的前眼部在x方向上被扫描的状态的说明图。

图4A、4B和4C是示出根据第一示例性实施例的前眼部的成像位置中的扫描范围以及根据扫描范围获得的图像的说明图。

图5是示出根据第一示例性实施例的测量操作画面的示例的示图。

图6是示出根据第一示例性实施例的测量操作画面的另一示例的示图。

图7是示出根据第一示例性实施例的测量流程的流程图。

图8A、8B、8C、8D、8E和8F是示出根据第一示例性实施例的前眼部的断层图像的显示示例以及校正后的图像的显示示例的示图。

图9是示出根据第二至第四示例性实施例的测量操作画面的示例的示图。

具体实施方式

以改变诸如被检者眼睛的物体的断层图像的成像范围的大小的情况为例。一种可能的方法可包括通过相对于物体在光轴方向上移动设备主体来改变测量光的光路长度。通过这样的方法，操作者不能容易地知晓为了获得具有操作者预期的大小的断层图像，测量光的光路长度要改变多少。

示例性实施例的一个方面涉及通过操作者指定物体的断层图像的成像范围的大小来容易地获得具有预期大小的断层图像。示例性实施例的另一个方面涉及通过有助于操作者确定设备主体是否可能接触被检者眼睛来提高安全性。