[发明专利]品质评价方法、信息记录介质、光盘装置和记录再现系统无效
申请号: | 201410042437.1 | 申请日: | 2014-01-28 |
公开(公告)号: | CN103971710A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 森本义谦;江藤宗一郎;渡边康一 | 申请(专利权)人: | 日立民用电子株式会社;日立乐金资料储存股份有限公司 |
主分类号: | G11B20/10 | 分类号: | G11B20/10 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 品质 评价 方法 信息 记录 介质 光盘 装置 再现 系统 | ||
技术领域
本发明涉及通过对光信息记录介质照射光而再现信息的光信息再现装置的品质评价方法、光盘装置、记录再现系统和适用于进行该品质评价的信息记录介质。
背景技术
当前,作为光信息记录介质的光盘,CD(compact Disc:高密度光盘)、DVD(Digital Versatile Disc:数字多功能光盘)、BD(Blu-ray Disc:蓝光光盘)、BDXLTM等已实现商品化并得到广泛普及。在这些光盘介质中存在作为只读型的ROM(Read Only Memory)型光盘、作为可记录型的R(Recordable)型光盘、作为可擦写型的RE(Rewritable)型光盘等各种各样的种类。
光盘中信息的记录再现通过对光盘介质照射激光来进行。信息的记录通过利用激光的热而形成记录膜材料的状态发生了变化的区域来进行。该状态发生了变化的区域被称为标记(mark),未使状态发生变化的区域被称为空白区(space,空区)。利用这些标记与空白区的组合在记录层记录信号。为了实现这样的记录,光盘介质的记录膜使用相变化材料、有机色素、无机材料等形成的合金和氧化物等。在信息的再现时,对记录有信号的记录层照射功率比记录时低的激光,根据标记与空白区的反射光量的不同而读取记录信号。
因为光盘是介质可更换的存储器,所以光盘介质与光盘装置的组合会频繁地变化。因此,光盘装置会根据当前的组合相应地进行记录再现的调整。例如,在记录时根据介质相应地调整记录功率和记录中使用的发光波形。此外,为了使记录再现时的光斑为最佳的状态,还进行物镜、准直透镜、透镜倾斜等的调整。
在光盘领域,为了实施这些调整,人们提出了对再现信号品质进行评价的各种指标。作为常用的指标,有SER(Symbol Error Rate:误符号率)、BER(Byte Error Rate:误字节率)、bER(bit Error Rate:误比特率)等,它们是在光通信领域也使用的译码结果中Symbol(符号,码元)、Byte(字节)、bit(比特)的错误率。此外,还存在抖动(Jitter)等作为对信号的相对于再现时钟的时间波动(摇摆)量进行评价的指标。除上述常用的指标之外,人们还提出了大量的基于光盘的再现信号处理系统的评价指标。对于BD,在非专利文献1中公开了Limit Equalizer Jitter(限幅均衡器抖动),在非专利文献2中公开了SAM(Sequenced amplitude margin:序列振幅余量)。Limit Equalizer Jitter是利用在再现信号处理中使用的Limit Equalizer(限幅均衡器)对再现信号进行处理而得到的结果中的Jitter。SAM是对BD应用PRML(Partial Response Maximum Likelihood:局部响应最大似然)的再现信号处理的情况下,根据目标信号波形和错误信号波形对再现信号波形的错误难度(误码难度)进行评价的指标。此外,对于BDXLTM,在专利文献1中公开了i-MLSE(integrated-Maximum Likelihood Sequence Error Estimation:集成最大似然序列误差估计),在专利文献2中公开了L-SEAT(run-length-Limited Sequence Error for Adaptive Target:自适应目标的游程长度受限序列误差)。i-MLSE、L-SEAT是PRML的再现信号处理中的、使用标准偏差将再现信号波形相对于目标信号波形的误差量的分布定量化而得到的指标。在光盘中使用这些指标对再现信号品质进行评价,实施记录再现时的调整。
此处,当在光盘上记录数据并长期保存时,需要定期地对整个光盘(即光盘整个面)进行评价以确认所记录的数据的品质是否发生了经时劣化。根据评价结果,在信号品质比规定的标准差的情况下,需要进行将数据转移至新光盘等的操作。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:US2010/0002556号公报
专利文献2:US2010/0260025号公报
非专利文献
非专利文献1:Japanese Journal of Applied Physics Vol.39,2000,pp.819-823
非专利文献2:Japanese Journal of Applied Physics Vol.45,No.2B,2006,pp.1061-1065
发明内容
发明所要解决的技术问题
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