[发明专利]基于期望最大确定统计模型参数的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201410040503.1 申请日: 2014-01-27
公开(公告)号: CN104809098A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 曾嘉;兰亮;陈嘉 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 期望 最大 确定 统计 模型 参数 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种确定统计模型参数的方法,用于基于N个数据点确定统计模型的参数,其中N为大于或等于2的整数,其特征在于,包括:

接收包括N个数据点以及N个数据点的D个属性的数据集以组织成输入矩阵,其中D为大于或等于1的整数;

根据所述输入矩阵,设定K个聚类中心、所述参数的初始值以及后验概率矩阵μN×Kn,k)的初始值其中,后验概率μn,k表示第n个数据点在第k个聚类中心上的后验概率,其中K为大于或等于2的整数,1≤n≤N,1≤k≤K,以及根据以及所述参数的初始值计算

基于计算得到第t次循环的所述参数,并计算所述N个数据点在所述K个聚类中心的残差其中t≥1;

基于所述N个数据点在所述K个聚类中心的残差从所述N个数据点中选出M个数据点,并从所述K个聚类中心选出L个聚类中心,其中1≤M≤N、1≤L≤K;

根据第t次循环计算得到的所述参数计算所述M个数据点在所述L个聚类中心上的后验概率

根据所计算出的所述后验概率更新所述N个数据点在所述K个聚类中心上的后验概率矩阵并基于计算出的所述后验概率更新第t+1次循环的所述参数的值;

判断第t+1次循环的所述参数是否收敛,在所述参数为收敛时,停止循环并输出所述参数。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述N个数据点在所述K个聚类中心的残差从所述N个数据点中选出M个数据点,并从所述K个聚类中心选出L个聚类中心,包括:

计算每个所述数据点的残差并从所述N个数据点中选出残差rtn最大的M个数据点;

根据各数据点在各所述聚类中心的残差针对所述M个数据点中的每个数据点,分别从所述K个聚类中心中选出残差最大的L个聚类中心。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述N个数据点在所述K个聚类中心的残差从所述N个数据点中选出M个数据点,并从所述K个聚类中心选出L个聚类中心,包括:

计算每个所述数据点的残差并从所述K个聚类中心中选出残差最大的L个聚类中心;

根据各数据点在各所述聚类中心的残差针对所述K个聚类中心的每个聚类中心,分别从所述N个数据点中选出残差最大的M个数据点。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法,其特征在于,在所述接收包括N个数据点以及N个数据点的D个属性的数据集以组织成输入矩阵之后,还包括:

设定比例因子λn和λk,其中0<λn≤0.5,0<λk≤0.5;

根据所述比例因子λn和λk计算所述M和所述L的值,其中,M=λnN,L=λkK。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其特征在于,判断第t+1次循环的所述参数的值是否收敛,包括:

计算在第t+1次循环计算得到的所述参数与在第t次循环计算得到的所述参数之间的差;

判断所述差的绝对值是否超出预设的阈值;

若所有所述差的绝对值都小于所述预设的阈值,则确定所述第t+1次循环的所述参数收敛;

若任一所述差的绝对值不小于所述预设的阈值,则确定所述第t+1次循环的所述参数不收敛。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司,未经华为技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410040503.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top