[发明专利]一种通过光学显微镜观测纳米结构的方法

权利要求书

1.一种通过光学显微镜观测纳米结构的方法，包括以下步骤：

S1，提供一待观测样品，该待观测样品具有纳米结构；

S2，提供一光学显微镜系统，该光学显微镜系统包括一光学显微镜及光学显微镜的辅助装置,该光学显微镜包括物镜以及载物台，该光学显微镜的辅助装置包括一鼓气部、一蒸气发生部以及一导汽管，所述鼓气部与所述蒸气发生部的一端相互连接，所述蒸气发生部的另一端与所述导汽管连接，所述鼓气部向所述蒸气发生部通入气体，从而将所述蒸气发生部产生的蒸气带入导汽管中；所述蒸气发生部包括一液体吸收材料、一空心管以及一加热层，所述液体吸收材料设置在所述空心管的内部；所述鼓气部通过收缩将外界的空气吸入并排出；以及

S3，将所述待观测样品放置在所述载物台上，用所述光学显微镜的辅助装置向所述待观测样品表面通入蒸气。

2.如权利要求1所述的通过光学显微镜观测纳米结构的方法，其特征在于，所述蒸气为水蒸气。

3.如权利要求1所述的通过光学显微镜观测纳米结构的方法，其特征在于，所述鼓气部为具有弹性的空囊，并具有一个出气口，该出气口与所述蒸气发生部密封连接。

4.如权利要求1所述的通过光学显微镜观测纳米结构的方法，其特征在于，所述加热层环绕所述空心管的外表面设置。

5.如权利要求1所述的通过光学显微镜观测纳米结构的方法，其特征在于，所述液体吸收材料为棉布、无纺布或高级吸水性树脂。

6.如权利要求1所述的通过光学显微镜观测纳米结构的方法，其特征在于，所述空心管的材料为陶瓷、玻璃或石英。

7.如权利要求1所述的通过光学显微镜观测纳米结构的方法，其特征在于，所述蒸气发生部进一步包括一绝缘保护层设置在所述加热层的外表面。

8.如权利要求1所述的通过光学显微镜观测纳米结构的方法，其特征在于，所述加热层为一碳纳米管层。

9.如权利要求3所述的通过光学显微镜观测纳米结构的方法，其特征在于，所述光学显微镜的辅助装置进一步包括一第一导管，该第一导管设置于所述蒸气发生部与所述鼓气部之间，将所述蒸气发生部与所述鼓气部密封连通。