[发明专利]一种加快温室气体垂直柱浓度反演速度的方法有效
申请号: | 201410033504.3 | 申请日: | 2014-01-22 |
公开(公告)号: | CN103743679B | 公开(公告)日: | 2017-03-01 |
发明(设计)人: | 孙友文;谢品华;徐晋;刘诚;刘文清;刘建国;周海金;方武;李昂 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司11251 | 代理人: | 杨学明,李新华 |
地址: | 230031 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 加快 温室 气体 垂直 浓度 反演 速度 方法 | ||
1.一种加快温室气体垂直柱浓度反演速度的方法,所述反演速度的加快是指针对某一特定的数据处理系统,通过优化温室气体垂直柱浓度反演方法和过程来加快反演速度,而不是通过升级数据处理系统版本来加快反演速度,其特征在于:该方法通过加快光谱建模速度和垂直柱浓度连续计算速度两种方法来加快温室气体垂直柱浓度的反演速度;
第一步,在测量光谱建模过程中采用以下方法来加快模型计算速度,具体实施如下:
(1)使用直射太阳光谱来反演温室气体的垂直柱浓度:太阳光汇聚系统安装在太阳跟踪系统上,太阳入射光经过太阳光汇聚系统汇聚后由光信号传输系统传输至光谱探测系统,光谱探测系统实现光信号采集和模/数转换,之后再送入光谱存储及解析系统,获得直射太阳光谱;
(2)忽略地面反照率、分子散射次数、大气热辐射过程、较弱干扰气体的吸收干扰因素的影响;
(3)通过对吸收截面的波长坐标进行指数变换,用波长变换间隔内的透过率加权和值代替平均透过率;
(4)用简化的高斯线型仪器函数代替光谱仪复杂的实际仪器函数;
(5)通过对由测量光谱观测参数建立的辐射传输方程进行离散化,减少待求解辐射方程组的数目;
第二步,在温室气体垂直柱浓度连续反演过程中,采用查表方法加快温室气体垂直柱浓度的计算速度,具体实施如下:
采用查表方法不需要对每一条测量光谱进行在线辐射传输模拟,能在较短的观测时间内处理完庞大的观测数据,具体实施方法为:先根据不同太阳天顶角、地面高度、地面反照率、气溶胶类型及水汽浓度模拟出所有场景下的太阳归一化光谱常量和权重函数,统计出当所有光谱都采用一个场景的模拟值进行温室气体垂直柱浓度拟合时的修正因子,并制作成一个修正表,后续数据处理时,所有角度的测量光谱都可采用这一场景的模拟值进行拟合,只需将拟合结果乘以表格中相应的修正因子即可,而不再需要对所有场景的测量光谱建模,这一特定场景的模拟值称为参考光谱,可以通过大气辐射传输模型SCIATRAN计算得到,计算过程中仅考虑分子单次散射的影响。
2.根据权利要求1所述的加快温室气体垂直柱浓度反演速度的方法,其特征在于:利用地基光谱仪记录的直射太阳光谱而不是地基、机载或星载光谱仪记录的散射光谱来反演温室气体的垂直柱浓度。
3.根据权利要求1所述的加快温室气体垂直柱浓度反演速度的方法,其特征在于:在采用辐射传输模拟软件SCIATRAN对权利要求1所述直射太阳光谱建模时,忽略地面反照率、分子散射次数、大气热辐射过程、较弱干扰气体的吸收干扰因素的影响,这些因素对温室气体垂直柱浓度反演结果影响很小但对光谱建模速度具有一定影响。
4.根据权利要求1所述的加快温室气体垂直柱浓度反演速度的方法,其特征在于:在采用辐射传输模拟软件SCIATRAN对权利要求1所述直射太阳光谱建模时,通过对吸收截面的波长坐标进行指数变换,用波长变换间隔内的透过率加权和值代替平均透过率,能增大积分步长且不影响积分效果。
5.根据权利要求1所述的加快温室气体垂直柱浓度反演速度的方法,其特征在于:在采用辐射传输模拟软件SCIATRAN对权利要求1所述直射太阳光谱建模时,用简化的高斯线型仪器函数代替光谱仪复杂的实际仪器函数。
6.根据权利要求1所述的加快温室气体垂直柱浓度反演速度的方法,其特征在于:在采用辐射传输模拟软件SCIATRAN对权利要求1所述直射太阳光谱建模时,通过对由测量光谱观测参数建立的辐射传输方程进行离散化,同时按照一定规则,用离散的平行平面大气代替连续大气,对大气层进行分层,减少待求解辐射方程组的数目。
7.根据权利要求1所述的加快温室气体垂直柱浓度反演速度的方法,其特征在于:温室气体垂直柱浓度的连续反演过程中,先模拟出所有可能场景的太阳归一化辐亮度和权重函数,统计出当所有光谱都采用一个特定场景的模拟值进行反演拟合时的修正因子,并制作成一个修正表,后续数据处理时,所有场景的测量光谱都可采用这一特定场景的模拟值进行拟合,只需将拟合结果乘以表格中相应的修正因子即可,而不再需要对所有场景的测量光谱建模。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410033504.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:地沟油检测试剂
- 下一篇:塑胶熔体流动速率测试机的重量加载装置