[发明专利]一种元素分析的测定方法和装置

权利要求书

1.一种元素分析的测定方法，其特征在于通过向待测样品中加入裂解时可释放氢的无机化合物并使其与样品混合均匀，然后使该混合物在450℃-980℃温度下进行裂解，使元素形成挥发物被原子光谱仪测定；所述的裂解释放氢的无机化合物指的是：硫氢化钠、硫氢化钾、硫化铵、硫化氢氨、碘化铵、硫化氢或碘化氢；其中加入无机化合物的重量为样品重量的0.2-100倍。

2.权利要求1所述元素分析的测定方法，其中加入无机化合物的重量为样品重量的0.5—50倍。

3.权利要求1所述元素分析的测定方法，其中所测的元素指的是：砷、汞、锑、铋、硒、锗、锡、铅和碲。

4.一种用于元素分析测定的居里点裂解器，其特征在于该裂解器包括感应加热线圈（1），石英反应衬管（2）、反应腔（3）、反应管密封塞及样品托一体化装置（4）、载气入口（5）、载气出口（6），样品坩埚或箔（7），样品坩埚或箔承载用的托（8）、坩埚或箔承载用的支架（9），样品坩埚或箔受到来自感应线圈的磁场作用，产生涡流使坩埚或箔快速升温到居里点温度，在此温度下，样品中的元素和释氢试剂反应生成元素挥发物被测定,其中坩埚或箔承载用的支架与密封塞连接杆。

5.根据权利要求4所述的居里点裂解器，其特征在于待测元素样品间接装载在居里点坩埚或包裹折叠的箔内时，坩埚或箔接触样品的表面喷涂或衬有一层高分子聚合物或对元素挥发物无分解作用的非金属氧化物涂层；其中非金属氧化物涂层指的是二氧化硅、二氧化钛、三氧化二铝或氧化锆。

6.根据权利要求4所述的居里点裂解器，其特征在于所述的坩埚或箔壁的厚度为0.05-1毫米。

7.根据权利要求4所述的居里点裂解器，其特征在于样品坩埚或箔（7）由居里点温度在450℃-980℃的居里点材料组成，样品受居里点材料加热后从室温升到居里点温度所需要的时间小于1秒。

8.根据权利要求4所述的居里点裂解器，其特征在于样品坩埚或箔（7）由居里点温度500℃-800℃的居里点材料组成，样品受居里点材料加热后从室温升到居里点温度所需要的时间小于500毫秒。

9.根据权利要求4所述的居里点裂解器，其特征在于载气进入衬管和从衬管中被输出时的开口位置首选开在衬管两端的侧面，样品入口密封塞为硅橡胶密封塞。

10.根据权利要求4所述的居里点裂解器，其特征在于该居里点裂解器用于含氢材料的裂解，通过裂解产生的氢与样品中的待测元素反应，生成元素挥发物被原子光谱仪测定。