[发明专利]一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法

说明书

技术领域

本专利申请涉及数据通信产品测试，特别是涉及一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法。

背景技术

随着电子技术的不断发展，数据通信产品已经成为当今人们不可或缺的必要日常工具，广泛应用于各种行业，例如路由器，交换机等等。

为了保证数通产品的可靠性和稳定性，在产品出厂前都要经过严格的功能性测试和老化测试，但是针对同一款产品有多个客户，由于客户有各自定制化的测试需求，因此，通常工厂要为每个客户维护一套测试程序，不能通用，造成测试效率低下，致使产品良率下降的问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利申请的目的在于提供一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法，将可产品通用的测试统一完成，解决上述现有技术中的测试效率低下的问题。

为实现上述目标及其他相关目标，本专利申请提供一种数据通信产品的通用测试方法，包括：获取待测试的至少一种数据通信产品的产品信息；烧录测试软件至所述待测试的数据通信产品；对所述待测试的数据通信产品进行测试；在测试通过后，在通过测试的数据通信产品擦除所述测试软件；烧录与所述产品信息相匹配的客户软件至所述通过测试的数据通信产品；在所述数据通信产品配置所述已烧录的客户软件。

优选的，所述产品信息包括：所述数据通信产品对应的客户信息及数据通信产品的规格参数信息。

优选的，所述数据通信产品依产品信息的不同而分为多种，所述多种数据通信产品在所述测试过程中生成同一格式的测试记录。

优选的，所述通用测试方法还包括：在所述测试有失败项时，对所述数据通信产品排查并解除问题。

优选的，所述通用测试方法还包括：在所述烧录客户软件失败时，重新烧录所述客户软件。

优选的，所述通用测试方法还包括：确认所述配置是否成功，若失败则重新执行所述配置。

优选的，所述通用测试方法还包括：所述测试包括功能测试和老化测试。

优选的，所述功能测试包括：CPU压力测试、内存压力测试、PCI-E总线测试、I²C总线测试、I²C设备探针测试、本地总线测试、NandFlash测试、风扇测试、多卡供电测试、实时时钟测试、LPSRAM测试以及其他外围设备测试的一种或任意组合中的一种。

优选的，所述老化测试包括：对所述数据通信产品的CPU及CPU外围芯片进行压力测试；若所述压力测试有失败项，对所述数据通信产品排查并解除问题；若通过压力测试，则判断所述压力测试时间是否达到预设测试时间阈值；若达到，则判定通过测试；若未达到，则继续执行所述压力测试直至达到所述预设测试时间阈值。

为实现上述目标及其他相关目标，本专利申请提供一种数据通信产品的生产方法，包括如上所述的数据通信产品的通用测试方法。

如上所述，本专利申请提供的一种数据通信产品的通用测试方法及生产方法，其中，所述通用测试方法包括：获取待测试的至少一种数据通信产品的产品信息，烧录测试软件至所述待测试的数据通信产品，进而对所述待测试的数据通信产品进行测试，并在测试通过后，在通过测试的数据通信产品擦除所述测试软件，进而烧录与所述产品信息相匹配的客户软件至所述通过测试的数据通信产品，进而在所述数据通信产品配置所述已烧录的客户软件，应用此测试方法，可以避免不同客户使用不同测试流程的弊端，大大简化了测试流程，降低了人力成本，提升了生产效率。

附图说明

图1显示为本专利申请的通用测试方法的一实施例的流程示意图。

图2显示为本专利申请的通用测试方法的一实施例的流程示意图。

图3显示为本专利申请的通用测试方法的一实施例的流程示意图。

图4显示为本专利申请的通用测试方法的一实施例的流程示意图。

元件标号说明

S1～S8    步骤流程

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本专利申请的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利申请的其他优点与功效。本专利申请还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利申请的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

请参阅图1，本专利申请提供一种数据通信产品的通用测试方法，包括：

步骤S1：获取待测试的至少一种数据通信产品的产品信息；