[发明专利]电子组件生命期监测系统有效
申请号: | 201410021320.5 | 申请日: | 2014-01-17 |
公开(公告)号: | CN104792438B | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 周媛;闻扬;王慧芬;杜晓阳 | 申请(专利权)人: | 上海宝信软件股份有限公司 |
主分类号: | G01K13/00 | 分类号: | G01K13/00;G08C17/02;G06K7/10;G06F17/40 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 王江富 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 组件 生命 监测 系统 | ||
技术领域
本发明涉及工业控制技术,具体涉及一种基于双界面超高频射频识别的电子组件可编程生命期自监测方法。
背景技术
工业控制电子组件应用环境千差万别,对复杂设备进行失效分析的时候,知识储备是最重要的,一些需要了解的共性问题包括正确的电子组件型号、正确的集成电路版本号、应用环境时间温度曲线。经常出现的情况是多次损坏的电子组件以至于无法确认损坏的根源,彻底的事后验尸测试对于精准失效分析是徒劳的,需要一种在线在应用监测方法记录客户端发生了什么。
现有的电子组件生命期监测系统,通过在电子组件内部附加温度传感器进行温度监测,仅能针对温度进行一维监测,且温度传感器存活期依赖于电子组件生命期,需要在电子组件设计阶段同期引入。
典型的采用射频识别技术远距离在线采集电子组件环境温度数据的方式,是通过在电子组件外部贴附含温度传感功能的有源射频识别标签,有源射频识别标签无线通信依赖电池供电,由于电子组件外壳形状材质各异,不可避免地存在有源射频识别标签贴附难题,且无法排除空间散热因素,无法监测电子组件印刷电路板级温度。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种电子组件生命期监测系统,能对电子组件生命期进行温度时间二维监测,能对电子组件进行准确失效分析。
本发明提供的电子组件生命期自监测系统,其包括射频识别标签、微处理器;
所述射频识别标签,包括非易失存储器、实时时钟、射频接口,并内嵌或外接温度传感器;
所述射频接口,用于外接天线,与读写器进行双向数据交换;
所述实时时钟,用于计时;
所述温度传感器,用于检测电子组件的温度;
所述非易失存储器,用于存储时间温度积分参数文件、生命期文件、温度记录文件;
所述微处理器,用于根据所述实时时钟的当前计时、温度传感器当前检测的电子组件温度,以及时间温度积分参数文件中的温度积分参数数据、生命期文件中的生命期数据、温度记录文件中的温度记录数据,执行电子组件生命期自监测计算,并将计算得到电子组件的剩余生命期更新到所述生命期文件。
较佳的,所述非易失存储器,逻辑分区文件系统;
所述文件系统,包括时间温度积分参数文件、生命期文件和温度记录文件;
所述时间温度积分参数文件,为单记录定长文件,包括温度采集粒度域、温度采集周期域、最大温度记录项数域和生命期自监测周期域;
所述生命期文件,为单记录定长文件,包括剩余生命期域和历史文件系统修改时间域;
所述温度记录文件,为多记录变长文件,温度记录文件最多存储的记录项数为所述温度积分参数文件的最大温度记录项数域中设定的最大温度记录项数,采用先进先出循环队列记录方式;
温度记录文件的一项记录,包括温度值域、停留时间域和高低温老化率域;
温度记录文件的相邻记录的记录号间隔1,记录号最小为0,最大为N-1,N为最大温度记录项数;
所述微处理器,工作过程如下:
一.当接收到实时时钟中断信号,读取实时时钟当前计时RTCcurr;
二.读取所述生命期文件的历史文件系统修改时间域中的最近一次文件系统修改时间RTCmodify,计算RTC=RTCcurr-RTCmodify,并更新所述生命期文件中的历史文件系统修改时间域中的最近一次文件系统修改时间RTCmodify=RTCcurr;
三.读取所述时间温度积分参数文件的温度采集周期域中的温度采集周期Psense,比较Psense是否等于RTC,若等于则转至步骤四执行,若不等于则转至步骤六执行;
四.读取温度传感器当前检测的电子组件温度Tcurr;
读取所述时间温度积分参数文件的温度采集粒度域中的温度采集粒度Tstep;
五.计算当前检测的电子组件温度Tcurr对应于温度记录文件的记录号n=[Tcurr/Tstep],[]为向下取整计算符号,发送命令将所述温度记录文件的记录号为n的记录的温度值域的温度值更新为当前检测的电子组件温度Tcurr;
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