[发明专利]一种基于多模式的恒虚警目标检测方法有效
申请号: | 201410013104.6 | 申请日: | 2014-01-10 |
公开(公告)号: | CN103760543A | 公开(公告)日: | 2014-04-30 |
发明(设计)人: | 郭云飞;周森山;彭冬亮;骆吉安;郑晓枫;唐学大 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41;G06F19/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 模式 恒虚警 目标 检测 方法 | ||
1.一种基于多模式的恒虚警目标检测方法,其特征在于包括以下步骤:
步骤1、建立均匀分布和非均匀分布杂波背景模型;
步骤2、建立与杂波背景区域相应的模型集;
步骤3、将多模式恒虚警参考窗划分为左右两个参考窗;
步骤4、根据模型集M进行权值计算,根据权值比重大小进行相应的恒虚警处理;
步骤5、计算门限系数B0、B1,根据CA-CFAR和CMLD-CFAR两者的权值得到检测概率表达式,得出检测概率Pd。
2.如权利要求1所述的一种基于多模式的恒虚警目标检测方法,其特征在于步骤1所述的建立均匀分布和非均匀分布杂波背景模型,具体如下:
1-1.建立瑞利均匀分布,瑞利均匀分布对应均匀分布杂波背景,其概率密度函数表达式为:
式中,x为杂波回波的包络幅度,σ为瑞利分布参数;
1-2.建立K分布,K分布是一种有两个参数概率分布的杂波分布统计模型,由一个快变调制分量和一个慢变调制分量组成,其概率密度函数表达式为:
其中,v为形状参数,决定了杂波分布的特征;b为尺度参数,受杂波分布中值与雷达反射截面积影响;Γ(·)为伽玛函数,Kv-1为修正贝塞尔函数。
3.如权利要求1所述的一种基于多模式的恒虚警目标检测方法,其特征在于步骤2所述的建立与杂波背景区域相应的模型集,具体如下:
P{M1(k)|Z(k)}+P{M2(k)|Z(k)}=1 (3)
其中M={M1,M2}表示杂波的模型集,M1表示均匀杂波背景,M2表示非均匀杂波背景,Z(k)表示在k时刻的量测集。
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