[发明专利]显示装置及其检查方法

说明书

技术领域

本发明涉及设置有多个半导体开关元件的显示装置及其检查方法。

背景技术

已知如下方法：利用显示装置具备的显示面板的像素的点亮/非点亮，对在显示面板的显示区域设置的半导体开关元件的栅极信号线及源极信号线的断线或像素的缺陷等进行检查。作为该检查方法之一，已知如下方法：使检查针接触到检查用端子之后，将向多个栅极信号线及源极信号线的检查信号的输入利用与它们连接的多个检查用半导体开关元件进行统一控制，由此，统一检查多个栅极信号线及源极信号线。

根据这样的统一检查的方法，与单独探测多个栅极信号线及源极信号线的端子的检查方法不同，检查装置不受显示面板的分辩率及半导体芯片的设计(例如，凸起数等)的影响，所以能实现通用且廉价的检查。

此外，在上述检查方法中，以往，在搭载有半导体芯片的半导体芯片搭载区域，设置有包含上述多个检查用半导体开关元件等的点亮检查电路。但是，伴随着半导体芯片的小型化及显示面板的窄边框化，需要减小半导体芯片搭载区域的尺寸，因此，考虑将点亮检查电路分割为多个并将它们设置在半导体芯片搭载区域以外的区域。

但是，这次发生如下问题：不能够对连接半导体芯片搭载区域与显示区域之间的引出布线的断线进行检查。因此，为了解决该问题，提议如下方法：将目的仅在于检查引出布线的断线的检查电路设置在半导体芯片搭载区域(例如，专利文献1)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2011-154161号公报。

如上述那样，半导体芯片存在小型化倾向，例如，设置在半导体芯片的两个长边的一个上的多个输出凸起与设置在该长边的另一上的输入凸起之间的距离(半导体芯片的短边的长度)变短。可以说该倾向对显示面板的窄边框化的实现来说是优选的。

但是，为了实现显示面板的窄边框化，不仅半导体芯片，搭载有半导体芯片的上述半导体芯片搭载区域的尺寸也需要减小(特别是，缩短与输入凸起及输出凸起连接的输入端子和输出端子之间的距离)。但是，通常在半导体芯片搭载区域已经设置有将输入凸起端子彼此连结的布线等各种布线及电路，所以，如果不对专利文献1那样的用于检查引出布线的检查电路进行研究而设置在半导体芯片搭载区域，那么被认为不能够减小该半导体芯片搭载区域的尺寸。

发明内容

因此，本发明是鉴于上述问题而提出的，其目的在于提供一种能减小半导体芯片搭载区域的尺寸的技术。

本发明的显示装置是具有设置有显示区域以及半导体芯片搭载区域的基板的显示装置。在所述显示区域设置有多个半导体开关元件、与所述多个半导体开关元件的栅极电极连接的多个栅极信号线、与所述多个半导体开关元件的源极电极连接的多个源极信号线。在所述半导体芯片搭载区域设置有与半导体芯片连接的输出端子即多个第一输出端子以及多个第二输出端子，该多个第一输出端子以及多个第二输出端子经由多个第一以及第二引出布线分别与所述多个栅极信号线以及所述多个源极信号线连接。所述显示装置具备：多个第一检查用半导体开关元件，设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域以外的所述基板上，能根据共同施加的栅极电位对向所述多个栅极信号线的检查信号的输入进行统一控制；多个第二检查用半导体开关元件，设置在所述显示区域以及所述半导体芯片搭载区域以外的所述基板上，能根据共同施加的栅极电位对向所述多个源极信号线的检查信号的输入进行统一控制。另外，所述显示装置还具备：多个第一引出布线断线检查用半导体开关元件，设置在所述半导体芯片搭载区域内，能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第一输出端子以及所述多个第一引出布线的向所述多个栅极信号线的检查信号的输入进行统一控制；多个第二引出布线断线检查用半导体开关元件，设置在所述半导体芯片搭载区域内，能根据共同施加的栅极电位对经由所述多个第二输出端子以及所述多个第二引出布线的向所述多个源极信号线的检查信号的输入进行统一控制。各所述第一引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第一检查用半导体开关元件的沟道宽度小，各所述第二引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度比各所述第二检查用半导体开关元件的沟道宽度小。

发明效果

根据本发明，因为能缩小多个第一以及第二引出布线断线检查用半导体开关元件的沟道宽度，所以能减小它们的尺寸。因此，能减小设置有多个第一以及第二引出布线断线检查用半导体开关元件的半导体芯片搭载区域的尺寸。

附图说明

图1是表示实施方式1的显示装置的结构的电路图。

图2是表示实施方式1的显示装置的检查方法的图。