[发明专利]测试集成电路电流的电路及方法在审
| 申请号： | 201410006662.X | 申请日： | 2014-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN103698595A | 公开（公告）日： | 2014-04-02 |
| 发明（设计）人： | 索鑫 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/25 | 分类号： | G01R19/25 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 吴靖靓;骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 集成电路 电流 电路 方法 | ||
1.一种测试集成电路电流的电路，其特征在于，包括运算放大器、采样电阻和模数转换器，其中，
所述运算放大器的第一输入端适于连接所述集成电路的待测电流输出端，所述运算放大器的第二输入端适于输入驱动电压，所述驱动电压与所述待测电流输出端的电压相等；
所述采样电阻的一端连接所述运算放大器的第一输入端和所述模数转换器的第一输入端，所述采样电阻的另一端连接所述运算放大器的输出端和所述模数转换器的第二输入端。
2.如权利要求1所述的测试集成电路电流的电路，其特征在于，所述模数转换器适于将所述采样电阻两端的电压差转换为数字电压。
3.如权利要求1所述的测试集成电路电流的电路，其特征在于，所述驱动电压的电压值低于所述运算放大器的电源电压的电压值。
4.如权利要求1所述的测试集成电路电流的电路，其特征在于，所述采样电阻两端的电压差低于所述运算放大器的电源电压与所述驱动电压的电压差。
5.一种采用如权利要求1至4任意一项所述的测试集成电路电流的电路测试集成电路电流的方法，其特征在于，包括：
施加驱动电压至所述运算放大器的第二输入端，所述驱动电压与所述集成电路的待测电流输出端的电压相等；
所述施加驱动电压至所述运算放大器的第二输入端后，获得所述模数转换器输出的数字电压；
根据所述数字电压获得流过所述采样电阻的电流，所述流过所述采样电阻的电流即为所述待测电流。
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