[发明专利]重复数据删除性能测试方法和装置有效

专利信息
申请号: 201410002975.8 申请日: 2014-01-03
公开(公告)号: CN103744783A 公开(公告)日: 2014-04-23
发明(设计)人: 许德智;于传帅;张程伟 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F12/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 重复 数据 删除 性能 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种重复数据删除性能测试方法,其特征在于,包括:

按指定分布选取存储样本数据的内存空间中m个连续内存块中的数据,每一内存块的大小为a;

根据所述样本数据的修改记录比特图,将所述m个连续的内存块中的数据分别加上各自内存块的修改次数;

将所述m个连续的内存块中的m/k个内存块中的数据加1,生成待发送的数据,并在所述样本数据的修改记录比特图中所述m/k个内存块对应的位置加1,k为重删率;

将所述待发送的数据发送至待测试存储系统;

统计所述待发送的数据的发送速率,以得到所述待测试存储系统的重复数据删除性能测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述按指定分布选取存储样本数据的内存空间中m个连续内存块中的数据之前,还包括:

申请存储空间大小为M的内存空间;

将所述存储空间大小为M的内存空间平均分割为大小为a的内存块,并在每一内存块中存入指定压缩率的随机数据;

将每一所述内存块中位置相同的n个比特中的数据扩展为扩展序列,以将每个大小为a的内存块中存储的数据扩展为大小为2n×a的样本数据,所述大小为M的内存空间共生成大小为2n×M的样本数据;

所述按指定分布选取存储样本数据的内存空间中m个连续内存块中的数据,每一内存块的大小为a,包括:

按指定分布选取所述大小为2n×M的样本数据中m个连续内存块中的数据。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将每一所述内存块中位置相同的n个比特中的数据扩展为扩展序列,以将每个大小为a的内存块中存储的数据扩展为大小为2n×a的样本数据,所述大小为M的内存空间共生成大小为2n×M的样本数据,包括:

将每一所述内存块中最高位的n个比特中的数据扩展为扩展序列,以将每个大小为a的内存块中存储的数据扩展为大小为2n×a的样本数据,所述大小为M的内存空间共生成大小为2n×M的样本数据。

4.根据权利要求1~3任一项所述的方法,其特征在于,所述根据所述样本数据的修改记录比特图,将所述m个连续的内存块中的数据分别加上各自内存块的修改次数,包括:

根据所述样本数据的修改记录比特图,将所述m个连续的内存块中最低位的t个比特中的数据分别加上各自内存块的修改次数;

所述将所述m个连续的内存块中的m/k个内存块中的数据加1,生成待发送的数据,并在所述样本数据的修改记录比特图中所述m/k个内存块对应的位置加1,k为重删率,包括:

将所述m个连续的内存块中的m/k个内存块中最低位的t个比特中的数据加1,生成待发送的数据,并在所述样本数据的修改记录比特图中所述m/k个内存块对应的位置加1,k为重删率。

5.根据权利要求1~4任一项所述的方法,其特征在于,还包括:

生成所述修改记录比特图,所述修改记录比特图用以记录所述大小为M的存储空间中每一内存块的修改次数。

6.根据权利要求1~5任一项所述的方法,其特征在于,所述指定分布包括帕累托Pareto分布或随机分布。

7.一种重复数据删除性能测试装置,其特征在于,包括:

选择模块,用于按指定分布选取存储样本数据的内存空间中m个连续内存块中的数据,每一内存块的大小为a;

修改模块,用于根据所述样本数据的修改记录比特图,将所述m个连续的内存块中的数据分别加上各自内存块的修改次数;

数据生成模块,用于将所述m个连续的内存块中的m/k个内存块中的数据加1,生成待发送的数据,并在所述样本数据的修改记录比特图中所述m/k个内存块对应的位置加1,k为重删率;

发送模块,用于将所述待发送的数据发送至待测试存储系统;

统计模块,用于统计所述待发送的数据的发送速率,以得到所述待测试存储系统的重复数据删除性能测试结果。

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