[发明专利]一种自适应量程的低存储数据量闪变测量方法有效
申请号: | 201410002023.6 | 申请日: | 2014-01-03 |
公开(公告)号: | CN103713223A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 刘笑菲;吴章宪;蒋剑跃 | 申请(专利权)人: | 烟台东方威思顿电气有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 烟台双联专利事务所(普通合伙) 37225 | 代理人: | 梁翠荣 |
地址: | 264000 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 自适应 量程 存储 数据量 测量方法 | ||
1.一种自适应量程的低存储数据量闪变测量方法,其特征在于:首先根据闪变值的实际变化范围,划分若干个闪变值测量量程;然后根据实际测量的瞬时闪变值,自适应的选择合适的量程进行数据统计;最后根据数据统计结果计算短时闪变值和长时闪变值。
2.如权利要求1所述的自适应量程的低存储数据量闪变测量方法,其特征在于包括如下步骤:
(1)、假设短时闪变最大值为 ,根据的值划分若干量程:
<>
其中,,表示第n个闪变量程的上限值;将各个量程划分为适当的级数,每个级别对应一个瞬时闪变值的范围;
(2)、根据获得的第一个瞬时闪变值确定初始量程,根据所分级数,记录瞬时闪变值;若后续获得的瞬时闪变值在初始量程范围外,则重新选择合适的量程,同时将前面已经记录的瞬时闪变值重新映射至新量程内;
(3)、一个统计周期结束后,根据最终确定的量程以及该量程下各级数统计得到的瞬时闪变值个数,计算概率分布直方图和累计概率密度曲线,分别以表示一个统计周期内超过时间比的概率分布水平,根据式<2>和式<3>计算短时闪变和长时闪变:
其中,表示开立方运算;表示第个统计周期得到的短时闪变值,。
3.根据权利要求1所述的自适应量程的低存储数据量闪变测量方法,其特征在于其中步骤(1)如下:
(1a)、假设短时闪变最大值为,根据的值划分若干量程:
<>
其中,表示第n个闪变量程的上限值;
(1b)、根据实际情况中对闪变的精度要求,将各个量程划分为适当的级数,各个量程的级数应保证相同,设为;
(1c)、根据划分的量程计算每个级别对应的闪变值的范围,则第个闪变量程每个级别表示的闪变值范围为:。
4.根据权利要求1所述的自适应量程的低存储数据量闪变测量方法,其特征在于其中步骤(2)如下:
(2a)、假设获得的第一个瞬时闪变值为,若满足:
<>
则将作为初始闪变量程;
(2b)、根据,确定在该量程内对应的级数,并且将该级数记录的瞬时闪变值数目加一;
(2c)、以表示获得的第x个瞬时闪变值,若,则闪变量程保持不变,执行步骤(2d);若,执行步骤(2e);
(2d)、根据当前量程,确定在该量程内对应的级数,并且将该级数记录的瞬时闪变值数目加一;
(2e)、若满足:
<>
表示第m个闪变量程的上限值,则将作为新闪变量程;
(2f)、假设表示量程内第i个级数内统计的瞬时闪变值个数,;表示量程内第j个级数内统计的瞬时闪变值个数,;根据公式:
<>
将量程内统计的数据转存至新量程;
(2g)、跳转至步骤(2c)继续进行统计,直至一个统计周期结束。
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