[发明专利]刷新速率调整在审
申请号: | 201380079157.1 | 申请日: | 2013-08-28 |
公开(公告)号: | CN105684089A | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
发明(设计)人: | M.K.贝内迪特;E.L.波佩 | 申请(专利权)人: | 慧与发展有限责任合伙企业 |
主分类号: | G11C11/406 | 分类号: | G11C11/406 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 黄涛;张涛 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 刷新 速率 调整 | ||
背景技术
存储器设备包括用于存储数据值的存储器单元。存储器设备的示例性类型是动态随机存取存储器(DRAM)设备。随着存储器制造技术提高,存储器单元的特征尺寸已经减小,以增加存储器设备中的存储器单元的密度。增加存储器单元密度提供了在存储器设备中增加的存储容量。然而,随着存储器单元的特征尺寸减小,存储器设备可能变得更加容易受错误影响。
附图说明
图1是根据示例性实现的系统的框图。
图2是根据示例性实现的系统的框图。
图3-7是根据示例性实现的描绘与图1或图2的系统相关联的技术的流程图。
具体实施方式
计算系统可以出于不同目的而利用各种存储器。一种类型的存储器,即易失性存储器可能由于其有利的操作特性而被用作系统存储器。随着易失性存储器进步,某些特征已经引起了以前没有遇到的错??误。例如,动态随机存取存储器(DRAM)设备以把组件放置得彼此比先前可能的更接近的特征尺寸被制造。当控制器重复访问相同或接近的存储器位置时,在接近的位置中存在影响存储器的电势。
更具体地,电荷可以被选择性地存储在动态随机存取存储器(DRAM)设备的基于电容器的存储器单元中以表示相应的存储数据。因为漏电流使存储的电荷降级,所以DRAM设备的存储器单元定期地刷新,这涉及读取存储在DRAM的设备存储器单元中的数据并且将该数据重写回存储器单元。
以足够高的速率对给定行的重复激活(例如,每刷新周期约几千次的激活)可能使存储在相邻字线中的数据降级(由DRAM特征的相对接近的间距导致的在DRAM中自然发生),即使这些字线被周期性地刷新。该重复激活错误可以被定义为行锤(rowhammer)错误。换言之,当激活速率超过特定阈值时,周期性刷新间隔可能不足以保持所存储的数据。
在本公开中,描述了减轻上述问题的方法和系统。更具体地,公开了一种具有检测和识别攻击者行的能力的存储器控制器。当这样的行被识别时,存储器控制器可以实行增加的刷新速率。只要发生持续激活,存储器控制器就可以保持增加的刷新速率。在激活减退时,存储器控制器可以使刷新速率恢复回到默认速率。这可以消除单方面增加刷新速率的高性能成本,同时保持针对行锤效应的保护水平。
参考图1,图示了根据本公开的示例的系统的框图。系统100包括存储器设备102和存储器控制器104。
存储器设备102可以是包括容易受行锤错误影响的字线和位线阵列的任何存储器。为了本公开的目的,附图中讨论的存储器设备将被称为动态随机存取存储器(DRAM),然而,本公开不限于此。另外,DRAM可以与其他DRAM一起布置,以形成双列直插存储器模块(DIMM)。
存储器控制器104是管理去到和来自存储器设备102的数据流的电路。尽管被图示为独立组件,但是存储器控制器104不限于此。相反,存储器控制器104可以被集成到诸如微处理器(未图示)的其他组件中。此外,参考存储器控??制器104讨论的各个方面可以被包含到存储器设备102中。
在图示的示例中,系统100包括容易受到包括行锤错误的各种类型的错误影响的存储器设备102。耦合到存储器设备102的存储器控制器104用于响应于确定存储器的行的激活速率106接近行锤速率而调整存储器设备的一区域在一段时间内的刷新速率108,该区域包括存储器的行和存储器的相邻行。
在一个示例中,存储器控制器104可以与各种规范兼容,各种规范包括但不限于双数据速率3(DDR3)或双数据速率4(DDR4)。存储器控制器104由于其架构而可以具有用于检测和识别攻击者行的能力,其中攻击者行是在一段时间内接收预定数目的激活的存储器设备102的行。在其他示例中,攻击者行可以经由除了存储器控制器104之外的组件来确定。
在各种示例中,识别攻击者行可以包括确定激活速率106,激活速率106是在影响行锤错误之前行可以在一段时间中接收的激活的数目。该激活速率160可以被确定为使得存储器控制器104具有足够的余量来在行锤错误发生之前识别和减轻行锤效应。
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