[发明专利]用于确定可封闭容器中的流体的平均参数的方法和装置在审
申请号: | 201380077200.0 | 申请日: | 2013-06-06 |
公开(公告)号: | CN105264352A | 公开(公告)日: | 2016-01-20 |
发明(设计)人: | A.克拉梅;H.布兰德勒;K.亨肯;T.A.保罗 | 申请(专利权)人: | ABB技术有限公司 |
主分类号: | G01M3/32 | 分类号: | G01M3/32;H01H33/56;H02B1/26;G01N33/26;H02B13/035 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李强;肖日松 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 确定 封闭 容器 中的 流体 平均 参数 方法 装置 | ||
1.一种用于确定可封闭容器(1)中的流体的平均物理参数(Tav,ρnorm,pnorm)的方法,包括以下步骤:
a)提供具有第一开口(11a)和第二开口(11b)的管道(4),
b)将阻流元件(7)定位在第一水平(h)处,使得所述阻流元件(7)延伸跨过所述管道(4)的整个横截面,
c)将密度传感器(3)和/或第一压力传感器(3)定位在所述管道(4)或所述容器(1)内部的第二水平(h0)处,
d)将所述管道(4)附连到所述容器(1)上,使得所述第一开口(11a)连接到第一容器开口上,并且所述第二开口(11b)连接到第二容器开口上,
e)限定基准管道温度(T1),
f)借助于布置在所述阻流元件(7)的两侧之间的压差传感器(2),或者借助于布置在所述阻流元件(7)的任一侧上的第二和第三压力传感器,来将局部压差确定为所述阻流元件(7)的一侧上的流体的第一压力和所述阻流元件(7)的另一侧上的流体的第二压力之间的差,
g)用所述密度传感器(3)来测量所述流体的局部密度,以及/或者用所述第一压力传感器(3)来测量局部压力,以及
h)根据所述局部压差、所述局部密度或所述局部压力和所述基准管道温度(T1),得出所述平均物理参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述平均物理参数是所述流体的平均温度(Tav),和/或所述流体的平均密度(ρnorm),和/或所述流体的温度标准化压力(pnorm),和/或所述流体的平均颗粒密度和/或流体质量。
3.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其特征在于,所述方法进一步包括以下步骤
i)将所述平均物理参数选择为所述流体的平均密度(ρnorm),并且根据所述平均密度(ρnorm)和所述容器(1)的已知容积得出所述容器(1)内部的流体的质量,以及/或者
j)将所述平均物理参数选择为所述流体的平均温度(Tav)和/或温度标准化压力(pnorm),并且根据局部测量压力,使用得出的平均温度(Tav)得出所述流体的温度标准化压力(pnorm)。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其特征在于,将所述平均物理参数选择为所述流体的平均温度(Tav),并且通过应用气压方程,根据所述局部压差、所述局部密度或所述局部压力和所述基准管道温度(T1),得出所述流体的平均温度(Tav)。
5.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其特征在于,将所述平均物理参数选择为所述流体的平均温度(Tav)和/或平均密度(ρnorm),并且通过用所述流体的平均温度(Tav)校正所述流体的局部密度,来得出所述流体的平均密度(ρnorm)。
6.根据前述权利要求中的任一项所述的方法,其特征在于,用以下方程确定所述流体的平均温度Tav
,
其中,R=通用气体常数,h=所述阻流元件(7)定位处的所述流体的第一水平,h0=所述第一压力传感器(3)定位处的所述流体的第二水平,Δp(h)=所述阻流元件(7)的两侧之间的压差,p(ho)=由所述第一压力传感器(3)测得的局部压力,M=所述流体的摩尔质量,g=重力加速度,h-ho=所述第一水平和所述第二水平之间的差,以及T1=管道壁(10)的温度。
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